上颌第一恒磨牙遗漏根管再治疗的临床分析

目的 探讨上颌第一恒磨牙根管治疗中遗漏根管的原因及对策。方法 上颌第一恒磨牙再治疗中通过插入小号K锉进行X线片偏移投照技术（近中或远中）及手术显微镜下仔细探查髓室底所确认的遗漏根管病例9例，记录再治疗中发现遗漏根管的部位，数量及疏通的根管数目并进行分析。结果 再治疗中发现上颌第一恒磨牙遗漏一个根管病例8例，遗漏两个根管病例1例；遗漏部位为近颇根管1例，近颇舌侧根管（MB2）根管5例，远颇根管2例，腭侧根管1例；再治疗中可重新疏通的遗漏根管7例。结论 上颌第一恒磨牙根管治疗中MB2根管遗漏率较高，遗漏根管的原因主要是根管口钙化及根管结构变异，完全去除髓室项并仔细探查髓宣底及显微超声技术的应用有助于寻找、发现并疏通遗漏根管，术前X线片有助于诊断上颌第一恒磨牙遗漏根管的发生及部位。     

上颌第一磨牙MB2根管遗漏与根管治疗失败之间关系的研究

目的：应用根管显微镜,研究上颌第一磨牙根管治疗过程中近中颊根第二根管（MB2）遗漏导致治疗失败病例的比例。方法：在UNIVERSA/FS2012根管显微镜下探查寻找并预备MB2根管,计算检出率的比例。结果：首次根管治疗失败的上颌第一磨牙中,再次治疗时根管显微镜下MB2根管的检出率为81.0%,首次治疗MB2根管的遗漏率为47.1%。结论：传统方法易造成MB2根管遗漏,应用根管显微镜可提高MB2根管的发现率。     

上颌磨牙近中颊根第二根管的检出率

目的 探讨上颌磨牙近中颊根第二根管(MB2)的临床检出率以及手术显微镜在提高上颌磨牙临床检出率中的作用.方法 选取进行常规根管治疗的63颗上颌第一磨牙.27颗上颌第二磨牙,以及进行显微根管治疗的55颗上颌第一磨牙,20颗上颌第二磨牙,2颗上颌第三磨牙,分别拍摄术前X线片,探查根管,记录根管数目.结果 进行常规根管治疗的上颌第一磨牙和上颌第二磨牙,MB2检出率分别为28.6%和3.7%;进行显微根管治疗的上颌第一磨牙和上颌第二磨牙,MB2检出率分别是61.8%和25%:对上颌第一磨牙常规根管治疗和显微根管治疗的MB2临床检出率进行卡方检验,X2=13.17,差异有统计学意义(P<0.001);对上颌第二磨牙常规根管治疗和显微根管治疗的MB2临床检出率进行Fisher确切概率值检测,单侧比较值为0.043,差异有统计学意义(P<0.05).结论 手术显微镜有助于提高上颌磨牙MB2的临床检出率,选择显微根管治疗有助于提升上颌磨牙根管治疗的成功率.     

上颌磨牙近中颊根第二根管定位与扩通的研究

上颌磨牙常因近中颊根第二根管(the second mesiobuccal canal,MB2)的遗漏而导致上颌磨牙根管治疗失败.因而如何通过有效辅助手段发现、定位及扩通MB2成为临床医师所关注的问题.本文就上颌磨牙MB2的研究现状及根管显微镜在定位与扩通上颌磨牙MB2中的辅助作用作一综述.     

X线结合锥束CT检测上颌磨牙遗漏根管的研究

目的:评价X线结合锥束CT应用于根管再治疗中寻找上颌磨牙遗漏根管的临床效果,探讨上颌磨牙最容易遗漏根管的类型。方法:123例X线怀疑有根管遗漏需行根管再治疗的上颌磨牙,拍摄CBCT,记录上颌磨牙最容易遗漏的根管类型。按照随机化分组的原则分为2组,第1组61例,第2组62例。第1组根据X线检查结果,手术显微镜下探寻遗漏根管。第2组根据X线及CBCT检查结果,判断根管遗漏的数目及位置,手术显微镜下探寻遗漏根管。分别记录第1组和第2组上颌磨牙遗漏根管的检出率,比较其有无差异。结果:第1组61例患牙中53例通过CBCT确诊为遗漏根管,其中43例显微镜下寻找到遗漏根管,第2组62例患牙中51例通过CBCT确诊为遗漏根管,其中48例显微镜下寻找到遗漏根管。第2组对于遗漏根管的发现率(48/51)高于第1组(43/53),两者之间有统计学差异。上颌第一磨牙和上颌第二磨牙最容易遗漏根管均为MB2。结论:X线结合锥束CT,有助于帮助发现遗漏根管,提高根管再治疗的成功率。     

上颌磨牙近颊第二根管的定位与治疗

目的:探讨上颌磨牙近颊第二根管(second mesiobuccal canal,MB2)的临床发现率、特征及治疗方法.方法:选取患牙髓炎或根尖周炎的上颌第一磨牙106颗、上颌第二磨牙80颗,拍摄术前X线片,探查根管,记录根管数目、形态和类型;采用机动镍钛器械Hero 642进行根管预备,侧向加压充填技术充填根管.结果:上颌第一磨牙、上颌第二磨牙MB2的发现率分别为82.1%和45.0%,多数MB2根管细小,用8或10号锉结合EDTA溶液可通畅根管.根管预备中有1枚器械折断,无其它并发症发生.结论:上颌第一磨牙MB2的发现率高于上颌第二磨牙,多数MB2根管口隐蔽,根管细小;机动镍钛器械预备可获得良好的成形效果.     

上颌第一磨牙遗漏近颊第二根管的显微根管再治疗

目的：探讨运用根管显微镜对经治的上颌第一磨牙遗漏近颊第二根管（MB2）的诊治方法。方法：选择需行根管再治疗的上颌第一磨牙64个。依据x线片特征,牙冠与髓底的形态特点判断是否存在MB2。采用斜方形开髓入口,小号K锉探查,必要时使用根管手术显微镜定位MB2根管。镍钛机用根管锉冠向下法预备根管,1％NaOCL冲洗根管系统,冷牙胶侧方加压与热牙胶垂直加压充填根管。记录近颊根根管分型、根管预备过程中并发症的情况,评价疗效。结果：再治疗中共发现MB2根管55个（85．81％）,疏通45个（80％）。近颊根双根管以2—1型、2—2型较常见（76．56％）。治疗过程中未发生器械折断、管壁侧穿等并发症,治疗成功率为95．55％。结论：上颌第一磨牙MB2发生率高,通常狭窄、弯曲、隐蔽,是临床治疗的难点;临床医生有意识地寻找和在显微镜下的可视化操作能提高MB2根管的发现率和治疗的成功率。     

手术显微镜对上颌第一恒磨牙近舌根管寻找定位的临床评价

目的 :评价手术显微镜在上颌第一恒磨牙近中颊根的近舌根管 (MB2根管 )定位中的作用。方法 :选取上颌第一恒磨牙牙髓病或尖周病患牙 52个 ,采用肉眼观察或手术显微镜下观察来寻找、定位上颌第一恒磨牙MB2根管口 ,运用统计学分析将两者对MB2根管的发现率进行比较。结果 :肉眼观察组 30例中有1 5例发现MB2根管。手术显微镜组 2 2例中有 1 7例发现MB2根管 ,手术显微镜组对MB2根管的发现率显著高于肉眼组 (P <0 .0 5)。结论 :手术显微镜的应用有助于寻找、发现MB2根管 ,从而有效改善上颌第一恒磨牙根管治疗的成功率     

上颌第一磨牙近颊第二根管的临床治疗

目的 探讨上颌第一磨牙近烦第二根管（second mesiobuccal canal，MB2）的特征及临床治疗方法。方法 选取患牙髓炎或根尖用炎的上颌第一磨牙95颗，拍摄术前X线片，术中采用小号K锉配合15％EDTA溶液探查根管，记录根管数目、形态和类型；采用机动镍钛器械Hero642进行根管预备，侧向加压充填技术充填根管。结果上颌第一磨牙MB2的发现率为81．1％，扩通的MB2占72．6％，多数MB2根管细小弯曲，需用小号锉配合使用EDTA进行疏通，机动镍钛器械预备根管无明显并发症。结论上颌第一磨牙MB2的发生率高，多数根管细小弯曲，小号K锉配合EDTA疏通根管，机动镍钛器械预备可获得良好的治疗效果。     

上颌第一磨牙近中颊根第二根管肉眼发现率的临床研究

选择临床209例上颌第一磨牙,采用改良髓腔入路探查并治疗近中颊根第二根管(MB2),研究其临床发现率和影响因素。结果显示209例上颌第一磨牙MB2临床肉眼发现率为45.9%,年龄及再治疗对其发现率有显著影响。MB2在上颌第一磨牙中具有较高发生率,年轻患者及未经治疗病例在临床肉眼操作下更易发现MB2根管口。     

上颌第一磨牙6根管1例报告

上颌第一磨牙根管系统复杂、变异大。本文报告1例上颌第一磨牙有6个根管病例。根管系统的解剖对根管治疗的成败至关重要,如遗漏根管,可造成根管治疗失败。     

上颌磨牙近中颊根根管截面形态的研究

目的：研究国人离体上颌第一、二磨牙近中颊根根管的内径和截面形态，为临床进行上颌磨牙根管治疗提供理论参考。方法：收集离体上颌第一磨牙108个，上颌第二磨牙167个。自根管口水平截取近中颊根，包埋。自根尖面开始每隔1mm横切牙根至距根尖6mm处，第7个横切面平近中颊根的根管口水平面。根管显微镜（DOM）下观察、拍摄每个牙根的7个切片的冠面，记录每个冠面含有的根管数，测量各截面各根管的颊舌径和近远中径，并按标准记录根管截面形状。结果：上颌第一磨牙共截取756个切片，均见近中颊根主根管（MB），464个切片中可观察到近中颊根第二根管（MB2）；上颌第二磨牙共截取1169个切片，含MB共1169个，MB2共442个；含MB2的标本数在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为96个和90个，占88．89％和53．89％。近中颊根主根管（MB）的颊舌径多大于近远中径，截面形状以扁形和椭圆形多见，但愈近根尖，两径间的差距愈小，即MB愈近根尖，愈趋向成圆形：近中颊根第二根管（MB2）的颊舌径和近远中径间的差距变化不大，截面形状以圆形最多，椭圆形次之，扁形最少。结论：上颌第一、二磨牙近中颊根的根管截面形态复杂，提示临床上需配合有效的清理和成形技术以提高该牙位的根管治疗成功率。     

锥体束CT对上颌第一磨牙近中颊根管形态的研究

目的：通过锥体束CT（cone--beam computed tomography,CBCT）成像系统分析上颌第一磨牙近中颊根根管形态及第二（second mesiobuccal,MB2）根管的发生率。方法：选择95名进行CBCT扫描的患者,共计180颗上颌第一磨牙,观察近颊根根管形态、MB2根管的发生率、左右侧发生比率及男女发生比率差异。结果：上颌第一磨牙近颊根管形态以Ⅲ型为主,MB2根管发生率为79．4％,左右侧发生比率无统计学差异（P=0．846）,男性发生率明显高于女性（P=0．043）。结论：上颌第一磨牙近颊根MB2根管的发生率较高,可通过CBCT有效的发现MB2根管,为临床诊疗提供依据。     

上颌磨牙近中颊根第二根管出现率及临床意义

目的研究离体上颌磨牙近中颊根第二根管（second mesiobuccal canal，MB2）在上颌第一、第二磨牙的出现率。方法离体上颌第一磨牙62颗和第二磨牙70颗，采用髓室底探查法和透明牙标本法分别观察记数MB2。结果髓室底探查法中上颌第一、二磨牙MB2的出现率分别为80．65％和48．57％，上颌第一磨牙MB2的出现率高于第二磨牙，差异有统计学意义（χ2=14．62，P=0．00）。透明标本法中上颌第一、二磨牙MB2的出现率分别为77．42％和44．29％，上颌第一磨牙MB2的m现率仍高于第二磨牙，差异有统计学意义（χ2=15．02，P=0．02）。上颌磨牙MB2的出现率在髓室底探查法和透明标本法中分别为63．64％和59．85％，两方法间的差异无统计学意义（χ2=0．04，P=0．22）。结论上颌磨牙MB2的出现率高，且忙颌第一磨牙MB2的出现率高于第二磨牙．临床医生应努力探查该根管以提高上颌磨牙根管治疗的远期疗效。     

Ѱ������ͨ����һĥ�����мո��ڶ������ٴ��۲�

目的    探讨上颌第一磨牙近中颊根第二根管（MB2）的寻找与扩通方法。方法    将2006—2008年于沈阳市口腔医院口内门诊就诊患者的因牙髓炎需要做根管治疗的上颌第一磨牙84颗,随机分成试验组（42颗）、对照组（42颗）。试验组根管显微镜下寻找MB2并扩通,而对照组常规裸眼下进行操作,比较分析两组MB2的发现率及通畅率。结果    试验组上颌第一磨牙MB2发现率、通畅率分别为80.95% 、82.35% ,对照组上颌第一磨牙MB2发现率、通畅率分别为42.86% 、77.78%,两组上颌第一磨牙MB2发现率比较,差异有统计学意义（P < 0.05）,通畅率比较差异无统计学意义（P > 0.05） 。结论    在对上颌第一磨牙进行根管治疗时,用根管显微镜寻找MB2的比例远大于临床用裸眼下操作。     

上颌第一磨牙远颊双根管1例

上颌第一磨牙根管系统复杂多变,远颊双根管发生率十分低。本文报道了一例上颌第一磨牙远颊双根管行根管治疗病例,并针对上颌第一磨牙根管系统特征、遗漏根管发生特点以及如何提高根管查全率作出总结。     

头灯放大镜在老年人上颌第一磨牙近颊第二根管治疗中的应用

目的：探讨提高老年人上颌第一磨牙近颊第二根管（MB2）发现率的临床方法.方法：按入选条件随机选取65岁以上老年人需要根管治疗的上颌第一磨牙80颗,分为两组：试验组45颗,用头灯放大镜寻找MB2并记录其发现率和根管找寻时间;对照组35颗,在常规光源下寻找MB2并记录发生率和根管找寻时间,与试验组进行比较.结果：试验组MB2发现率为86.67％、总根管找寻时间为20.13±0.42（分钟）;对照组MB2发现率40％、总根管找寻时间31.21±0.72（min）,两组间MB2发现率及总根管找寻时间存在显著性差异（P＜0.05）.结论：寻找老年人上颌第一磨牙MB2时,头灯放大镜明显优于常规光源,经济实惠、适合临床推广.     

上颌磨牙近中颊根第二根管口的解剖定位

目的　寻找上颌磨牙近中颊根第二根管 (MB2 )根管口的定位规律。方法　收集离体上颌第一、二磨牙共 5 5 0颗。根管显微镜 (DOM)下探查根管口 ,拍摄髓底图片 ,测量髓底一系列参数 ,分析MB2根管口定位规律。结果　DOM下MB2发现率在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为 78.2 4 %和 4 1.32 %。MB2根管口位于MB P根管口连线的近中 ,与该连线的垂直距离在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为 0 .6 6mm和 0 .6 3mm ;距近颊根主根管 (MB)根管口距离分别为 1.32mm和 1.2 1mm。结论　建议临床医生在探查上颌磨牙髓底时 ,可在MB P根管口假想连线的近中、距其 0 .5～ 1.0mm ,距MB根管口 1.0～ 2 .0mm ,使MB MB2根管口间假想的、微凸向近中的弧形连线与近中边缘嵴平行处寻找MB2根管口。     

上颌恒磨牙近中颊根根管弯曲情况的离体研究

目的 分析上颌恒磨牙近中颊根根管分型、弯曲发生情况、弯曲位置、弯曲方向及弯曲程度。方法 收集上颌第一、第二恒磨牙60颗，探查近中颊根管，并于根管内插入006#～015#扩大针，拍摄颊舌向(临床)和近远中向(邻面)X-线片。用Photoshop-6．0软件分析根管弯曲位置、弯曲方向和弯曲角度。结果 ①上颌第一恒磨牙近中颊根MB1根管的发现并探通率为90．6％；MB2根管的发现并探通率为71．8％，近中颊根以2—2型为主(48．27％)；上颌第二恒磨牙近中颊根MB1根管的发现并探通率为89．3％；MB2根管的发现并探通率为60．7％，近中颊根以2—1型为主(48％)。②大多数MB1与MB2根管在两个观察方向均有不同程度的弯曲。第一弯曲多发生于根中1／3及其冠方，临床片所示近颊根管多向远中弯曲，邻面片观察到的根管多向腭侧弯曲。在颊舌向发生的弯曲中，2—1型的MB2根管较MB1根管有更大的弯曲度；而2—2型的MB1与MB2根管弯曲度无显著性差异；2—1型的MB2根管弯曲的发生率与弯曲度均高于2—2型的MB1根管。在近远中向发生的弯曲中，2—1型的MB1根管弯曲度高于2—2型的MB1根管。③第二弯曲多发生于根尖1／3(部分发生于根中1／3)，弯曲度与第一弯曲度无显著性差异。结论 上颌第一、第二恒磨牙近中颊根管多有弯曲，充分了解根管的走向和弯曲度是完善根管治疗的必需。     

上颌磨牙近颊根根管类型及其临床意义

目的：运用透明标本法观察离体上颌第一、二磨牙近颊根根管形态，并进行分类和讨论其临床意义。方法：收集离体上颌第一、二磨牙共275颗，制成透明标本。根管显微镜下观察、记录近颊根的根管数目、走向、融合和分支情况，并进行分类。结果：①上颌磨牙近颊根管形态各异，可概括为八种类型，双根管中以2-1型和2-2型多见；双根管率在第一磨牙和第二磨牙分别为81．48％和49．7％。②近颊根主根管(MB)和近颊根第二根管(MB2)的尖1/3多弯向远中，MB2在近根管口1mm-3mm处有一斜向近中的弯曲点。结论：掌握上颌磨牙近颊根1-2型、2-1-2型和1-2-1型根管形态，是提高上颌磨牙根管治疗技巧和成功率的关键；有效去除根管近中壁部分突起的牙本质，以减小冠1/3处的弯曲度，可望提高MB2根管的探通率。