共查询到20条相似文献,搜索用时 250 毫秒
1.
采用恒流和梯度电流两种方式对TC4钛合金进行微弧氧化,微弧氧化液组成和工艺参数为:Na2SiO3 16 g/L,(NaPO3)68 g/L,NaF 2 g/L,频率500 Hz,占空比10%。研究了不同电流模式下电压随微弧氧化时间的变化。对比研究了两种电流模式下所得微弧氧化膜的表面形貌、厚度、粗糙度、显微硬度等性能。结果表明,恒流模式下,随电流密度升高,氧化膜层的终止电压、厚度、粗糙度和表面微孔直径增大,显微硬度先增大后减小;与恒流模式膜层相比,梯度电流模式下所得氧化膜层较厚,粗糙度较低,硬度高,表面微孔直径较小。较适宜的恒流电流密度和梯度电流密度分别为10 A/dm2和15–5 A/dm2,而后者所得膜层的综合性能优于前者所得膜层。 相似文献
2.
3.
为了利用微弧氧化工艺生成钛合金生物钙磷陶瓷涂层,使用微弧氧化电源,在恒电流条件下制备试样。通过电子扫描电镜和电子能谱仪观测不同氧化阶段涂层形貌和元素组成,膜层厚度变化特点,并分析各阶段微弧放电特性,研究了钛合金微弧氧化生成羟基磷灰石(钙磷)医用陶瓷涂层机制。结果表明,各阶段膜层放电特性不同,膜层先向外生长,后向内生长,且所生成膜层元素成分有区别,致使在微弧放电阶段才有钙磷生物成分生成。结论:若想获得高质量钙磷生物膜层,需使微弧氧化达到微弧放电阶段,但应避免进入弧光放电阶段,所得结论可对研究微弧氧化成膜过程起到一定的指导作用。 相似文献
4.
不同电流密度下TC4钛合金微弧氧化膜的电化学腐蚀行为 总被引:1,自引:0,他引:1
分别采用恒流和梯度电流两种模式对TC4钛合金进行微弧氧化,并研究了电流密度对膜层厚度、表面形貌和耐蚀性的影响。结果表明:恒流模式下,随着电流密度的增加,膜层的厚度、表面微孔直径逐渐增大,自腐蚀电位和阻抗值先增大后减小;梯度电流模式下所得膜层较厚、表面微孔直径较小,耐蚀性较好。较适宜的恒流电流密度与梯度电流密度分别为10 A/dm2和15-5A/dm2,且后者所得膜层的耐蚀性优于前者的。 相似文献
5.
在含硅酸钠10g/L、六偏磷酸钠2g/L、柠檬酸钠2g/L和添加剂4g/L的电解液中,以微弧氧化技术在Ti75钛合金的表面成功制备了微弧氧化膜。采用涡流测厚仪、扫描电镜、X射线衍射仪、显微硬度计等手段研究了微弧氧化电压和时间对钛合金微弧氧化膜厚度的影响,分析了氧化膜层的表面形貌、组成、硬度、耐蚀性能及高温性能。结果表明,微弧氧化膜层主要由金红石型和锐钛矿型二氧化钛组成。氧化电压升高,膜层厚度增加;氧化时间延长,初期膜层厚度增加明显,20min后膜厚增加减缓。经微弧氧化处理后,钛合金的硬度、耐蚀性能和高温抗氧化性能均得到了明显改善。 相似文献
6.
通过微弧氧化在Ti75钛合金表面成功制得微弧氧化膜层。电解液组成为:Na3PO4·12H2O14.0g/L,Na2SiO3·9H2O2.0g/L,添加剂3.0g/L。借助体视显微镜、涡流测厚仪、显微硬度计、X射线衍射仪等设备,研究了氧化电压和时间对微弧氧化膜形貌、厚度、显微硬度及构相等性能的影响。结果表明,微弧氧化膜层主要由金红石型和锐钛矿型TiO2组成。氧化电压和时间对氧化膜的形貌、厚度及显微硬度的影响较大。随氧化电压升高,微弧氧化膜层中金红石相TiO2的含量增大。氧化时间对微弧氧化膜层构相的影响不大。 相似文献
7.
8.
9.
10.
利用微弧氧化技术在Ti6Al4V钛合金表面制备出蓝色微弧氧化膜。对微弧氧化膜的微观形貌和元素组成进行了分析,并对微弧氧化膜的显微硬度进行了测试。结果表明:微弧氧化膜表面光整,呈均匀深蓝色,其主要由Ti、Mn、O和C四种元素组成,还含有少量的V、Al和Si元素;微弧氧化膜的表面粗糙度约为0.159μm,与钛合金的表面粗糙度相近;微弧氧化膜的显微硬度为5 437.4 MPa,显著高于钛合金的显微硬度。 相似文献
11.
The influence of copper on the morphologies of porous anodic alumina has been investigated under current and voltage control using a sputtering-deposited Al-2.7 at.% Cu alloy and a commercial AA 2024-T3 aluminium alloy anodized in either sulphuric acid electrolyte or the same electrolyte but with addition of tartaric acid. The findings indicate that film development involves repeated formation of embryo cells of anodic alumina at the metal/film interface. During the initial stages of anodizing at constant voltage, cell formation is accompanied by current peaks in the current-time response. The porosity of the resultant films has a lateral aspect due to the layering of embryo cells. The thickness of individual layers is proportional to the formation voltage, with a ratio of the order 1 nm V−1. The cell formation is accompanied by enrichment of copper in the alloy, incorporation of copper species into the anodic film, in low amounts relative to the alloy, and evolution of oxygen. These processes disrupt the formation of the classical pore morphology, characteristic of high purity aluminium, due to continuous formation of fresh embryo cells and re-direction of pores. The main effect of the tartaric acid addition to the sulphuric acid was to reduce the rate of anodizing of the alloys at constant voltage by about 10-20%. 相似文献
12.
13.
对金属雕塑用的2024铝合金进行阳极氧化处理,并研究了电压对铝合金氧化膜的厚度、硬度、耐蚀性及表面形貌等的影响。结果表明:电压较低时,氧化膜较薄,耐蚀性不佳。适当升高电压,有利于提高氧化膜的厚度和硬度。但电压高于20V时,氧化膜的溶解速率增大,使得氧化膜的厚度和硬度下降。20V下得到的氧化膜具有最佳的耐蚀性。 相似文献
14.
15.
16.
17.
18.
采用脉冲电沉积技术在304不锈钢表面制备Ni-Cu合金镀层,镀液组成和工艺条件为:NiSO4ꞏ6H2O 200g/L,CuSO4ꞏ5H2O 10 g/L,十二烷基硫酸钠0.2 g/L,柠檬酸钠80 g/L,糖精0.2 g/L,pH 4.0,温度25°C,搅拌速率30 r/min,平均电流密度40~120 mA/cm2,脉冲频率0~100 Hz,占空比20%~90%,时间30 min。研究了平均电流密度、脉冲频率和占空比对Ni-Cu合金镀层的元素组成、表面形貌和显微硬度的影响,得到较优的工艺参数为:平均电流密度40 mA/cm2,脉冲频率50 Hz,占空比60%。该条件下所得Ni-Cu合金镀层由质量分数分别为56.53%和43.47%的Ni和Cu组成,呈“菜花”状形貌,结晶细致、均匀,显微硬度为614.4 HV。 相似文献
19.
20.
《Diamond and Related Materials》2000,9(9-10):1604-1607
Diamond films with different crystal structures, morphologies and surface characteristics were synthesized under various deposition parameters and annealing conditions by the microwave plasma chemical vapor deposition (MWPCVD) method using gas mixtures of CH4, CO and H2. The effects of CH4 concentrations, grain sizes, grain orientations, film thicknesses and annealing technologies in various ambient gases on planar electron emission of diamond films were studied. The results show that small-grained and (011)-oriented diamond films deposited under the condition of high CH4 concentration present the properties of high emission current and low threshold voltage; the emission current increases with decreasing the film thickness. There are largest current density and lowest threshold voltage at the film thickness of 1.5 μm. The annealing in H2 after deposition appears to be more beneficial in lowering the threshold voltage, increasing emission current and improving stability for electron emission of films than annealing in N2 or Ar. These results indicate that diamond thin films with high emission current, low threshold voltage and high stability can be obtained by selecting suitable deposition parameters of diamond films. 相似文献