示波管内残余气体的研究

用HZP-1回旋质谱计对示波管在整个寿命过程中残余气体的变化规律进行了研究,分析了吸气剂蒸散前后,老炼过程,存放和寿命各个过程中管内残余气体的变化,从而为合理选择材料,制订工艺提供了依据。采用开管取样技术对寿终管进行了管内气氛的分析,判明了器件的失效原因,为进一步提高质量,延长器件的寿命指出了方向。     

示波管内残余气体的研究

近年来,电真空器件的残余气体分析技术取得了很大的进展,并广泛的应用于各类电真空器件中,但示波管作为一个很重要的管种,对它的残气分析工作还进行得很少。我们用回旋质谱计对示波管寿命过程中各个阶段的残余气体进行了系统的测试,并对寿终管的残余气氛的特征进行了测定。     

减少示波管聚焦差废品的一种途径

一、前言聚焦质量是示波管使用的主要指标之一。但在示波管生产中,由于种种原因总有一定百分比的聚焦差废品。为了提高聚焦质量,减少聚焦差废品,我们对13SJ38J示波管进行了一些试验。如所周知,产生示波管聚焦差废品的因素     

氧化钪分散型氧化物阴极在示波管中应用

介绍示波管使用氧化钪分散型氧化物阴极的制造工艺和在增大电流密度条件下的寿命试验，取得较好的结果。这处新阴极能适用于高分辨率、高亮度阴极射线管。     

A1022型示波管的研制

本文主要介绍A1022型示波管的研制及在研制过程中解决的关键问题。     

巧用万用表判断示波管彩色显像管是否老化

一、判断示波管的老化程度经长期使用的示波管,阴极发射能力降低,使得示波管显示光迹暗淡,严重时看不到光迹。维修示波器时,遇到这种情况需要对示波管老化程度进行判断:先给示波管灯丝通6.3V电压(交、直流均可),再将万用表拨至R×100档,测量示波管阴、栅极之间的电阻值,     

灯丝“闪亮”的原因分析与解决措施

本文对示波管在老炼过程中，所发生的灯丝“闪亮”现象进行了分析，根据“闪亮”现象的成因，提出了相应的解决办法。     

宽带示波管的设计计算

本文通过 TH8203宽带示波管电子光学系统的反设计计算,说明了该管电子光学系统的工作原理,和给出了一套有关宽带示波管的设计计算方法,可能对一般宽带示波管的设计计算有参考意义。     

电子示波器(八)

六、电子示波管的高压电源在观察和拍摄各种电能的快速跃变过程时,须用     

矽钢片在阴极射线示波管磁屏蔽方面的应用

一、概述在示波器的生产中,为了抑制低频磁场对示波管的干扰,采用的方法是在示波管外加用高导磁金属材料做成的屏蔽罩。这种屏蔽罩通常使用1_(?)铁镍软合金带,其中含有贵重金属镍,价格昂贵,而且必须经过严格的热处理退火,才能具有很高的导磁性能。但是在搬运过程中又会受到振动或敲击的影响,造成导磁性能的损失,从而使屏蔽效果下降。     

三种示波管通过鉴定

三种示波管通过鉴定去年，７４１厂又获得了一批成果，有８项产品通过了省级鉴定，其中示波管占了三项。１１５ＳＪ１１０示波管该管屏幕对角线为１５ｃｍ的内刻度平面屏管，可分别采用Ｙ１４和Ｙ２７两种荧光粉，它具有长度短、有效工作面大（１００ｍｉｎ×８０ｍｍ）、...     

自动聚焦在示波器中的应用

<正> 一般示波器,当着示波管的亮度增加到一定的程度时,已调好聚焦的光点或扫线将要散焦。此现象多发生于示波管的亮度比较亮的时候,这就是所谓亮度对聚焦的影响。这一影响在早期的示波器中更为严重。当时主要的问题是,示波管电子枪内电极的相互位置按排和各电极的几何尺寸尚不够科学,致使当着示波管控制栅(G_1)的电压变化,使阴极的发射电子增加时,有少量电子被聚焦极(A_1)截获,造成 A_1极的电压变化,影响了原来已调好的聚焦。     

示波管中球形网后加速透镜的研究

本文介绍了用于示波管的球形网后加速发散透镜的计算结果,给出了不同结构的透镜焦点、焦距及偏转放大率。根据计算结果作了实验及理论分析,从而为宽带示波管的设计提供了依据。     

试论多色示波管

七十年代中,八十年代初,在示波管领域内起升了一颗超新星——多色示波管。直至现在它已有三种类型的结构。液晶型多色示波管首先由美国Tektronix公司推出6·5″管基本结构如图1所示。简言之,即在普通示波管前加一液晶彩色光闸(Shutter)。彩色光闸的结构如图1所示。即在一组红-绿偏振光片和线性偏振光片之间嵌置一层尽可能薄的、能尽量扩大视角、并能满足整半波光程差的以及可变光程半波长液晶光学延迟元件。其轴线与偏振光片轴线呈45°倾斜角。     

示波管的矩形校正系统

为满足示波管的偏转线性要求，对于平面网和球面网PDA透镜示波管，普遍采用矩形校正极结构。本文叙述了这种类型校正系统的工作原理和特性。     

示波管内刻度工艺及质量控制

本文简要介绍了示波管内刻度工芝．分析了生产中出现的常见废品、产生的原因及控制方法。     

脉冲取样技术

普通示波管不能显示亳微秒(10~(-9)秒)脉冲,其原因有二:偏转系统频带宽度的限制及电子渡越时间(电子通过偏转系统需要的时间)会引起畸变.为了显示毫微秒脉冲,在示波管方面曾做了很多工作,目前比较成功的是"行波示波管",这种示波管能工作在千兆赫的范围.除了行波示波管以外,还有一种完全不同的方法,称"脉冲取样技术";它可以用普通示波管来显示,或用其它仪器来测量毫微秒脉冲."脉冲取样技术"的原理是将快速(高频)的测量转换成慢速(低频)的测量,也就是应用了"频率变换技术".目前应用"脉冲取样技术"做成的仪器有取样示波器及自取样系统两类.     

示波管制网工艺及废品控制

本文简要介绍了示波管制网工艺，分析了生产中出现的主要废品及控制方法。     

微通道板示波管带状边框透明导电薄膜的研制

本文主要介绍微通道板示波管带状边框透明导电薄膜的制备工艺,对薄膜的电学和光学性能进行了测量,并对薄膜制备过程中的影响因素进行了讨论。     

领略高端示波器

高端示波器的发展 早期的示波器为纯模拟线路．采用示波管作为显示界面，对于信号参数的测量基本靠示波管上的刻度。