透射式特征X射线测厚技术实验研究

介绍了特征X射线的测厚原理、测厚系统组成及数据处理方法,并利用铜和铁的特征X射线对纸张厚度进行了实验研究;当被测量纸张的厚度从7.2mg/cm2到43.2mg/cm2时dm与In Ⅰ曲线的相关系数达到0.999以上,测量相对误差在2%以内.     

凸度仪X光机参数设置有效性的实验验证

X射线板带材凸度检测系统采用双X射线源和双排充气电离室探测器,对热轧生产线上的钢板进行厚度和凸度等参数的检测,X射线的能量和强度是决定钢板测厚精度的重要因素。为了保证测量精度,本文依据国标GB/T15636—2008假定由统计涨落引入的测厚误差应小于±0.06%,在X光机管电压为180kV、电流为11mA的情况下,从理论上估算了满足以上精度探测器输出的最大相对标准偏差,通过实验对测厚范围内的钢板进行测量,计算出各路探测器输出在不同厚度钢板时的相对标准偏差。实验结果表明,在满足系统测量速度的情况下,通过对几个原始数据进行平均,可使统计涨落小于理论估算值。X光机设置的管电压和管电流参数满足测厚精度的要求。     

薄膜X射线测厚仪的研制

介绍了用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,详述了该测厚仪的硬件组成和测厚的工作原理.该装置已成功运行在双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜生产线上.     

数字化线阵CCD扫描X射线成像系统

介绍了一种数字化线阵CCD扫描X射线成像系统的原理性样机,其主要特点是用窄束X射线成像,从系统结构上抑制了散射对成像的影响,在满足图像质量的情况下降低了成像所需的X射线剂量.介绍了系统设计的理论基础,讨论了系统的软、硬件组成,并测量了系统的成像性能.     

凸度仪校准片厚度序列选取的理论分析和仿真

用一定厚度的校准片进行标定,是X射线测厚设备使用前必须完成的关键工作。选取的校准片越多,系统标定曲线的精度越高,但同时成本也会随之增加。本文以实际构建的X射线热轧钢板凸度测量系统为研究对象,通过TASMIP方法生成X射线能谱,用该能谱对射线经过钢板的衰减规律进行分析,完成了对校准片选取的仿真计算。给出了实际中可应用的厚度序列实例。     

基本参数法X射线荧光测厚

本文简要介绍了用放射性核素的非单能初级辐射,非破坏地绝对测量极薄层厚度的X射线荧光测厚技术。测量薄层厚度的精确度好于1.1％。与空气等效法α测厚仪的测量结果对照,相对偏差小于3.8％。     

《X射线辐射测量方法在金属矿床普查与勘探中的应用》

《X射线辐射测量方法在金属矿床普查与勘探中的应用》一书1985年由苏联列宁格勒出版社出版,约20万字。该方法是通过测量样品被放射性同位素源激发后待测元素辐射出的特征X射线(即X射线荧光)确定其含量的。我国通常称为放射性同位素X射线荧光方法。它的显著特点是仪器轻便、测量效率高、     

放射性同位素XRF技术中一种与“特散比”法等效的新方法

在一定的条件下,待测元素特征X射线和康普顿散射强度比值,与待测元素特征X射线强度和带吸收滤片所测量的强度比值之间有着简单的双曲函数关系。利用这一函数关系,很容易在单道携带式放射性同位素X射线荧光分析仪上实现“特散比”法改善基体效应。用这种方法所得到的分析结果和用“特散比”法得到的分析结果,二者吻合很好,而且不需要增加任何设备,节省了测量时间和成本。已经测量了几种类型的锡矿样品和某些铜矿样品。     

强流电子束在角向磁场中产生的硬X射线测量

利用X射线吸收片以及和剂量片相结合的方法，测量了强流电子束在角向磁场中产生的硬X射线的剂量和能谱分布；采用仅对光子能量124keV以下的X射线相应灵敏的PIN半导体探测器，测量了硬X射线时间谱；研究了硬X射线的产生与靶厚、磁场电流的关系。     

高能闪光X射线能谱的空间分布特征

高能闪光X射线是闪光X射线照相的主要手段,而高能闪光X射线的属性参数会影响到闪光X射线照相的实际结果,其中最为重要的属性便是能谱.能谱的空间分布特征可以有效地帮助实际测量装置的结构设计,获取最佳的测量效果.Geant4是国际上通用的高能物理模拟系统,在轫致辐射理论的基础上,使用其对实际场景进行了细致模拟,从而得到高能闪光X射线能谱在空间上的分布特征.