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《仪表技术与传感器》2019,(10)
针对地表I~V类水对于氨氮指数测定的需求,利用微控技术与顺序注射技术相结合建立水质氨氮在线监测系统。分别通过纳氏试剂分光光度法和水杨酸分光光度法完成了氨氮指数的测定,测定范围涵盖地表水环境Ⅰ~Ⅴ类水中氨氮的标准限值。实验结果表明:利用最小二乘拟合算法分别建立水杨酸法和纳氏法氨氮指数测定的回归模型,其线性范围分别为0~1、1~2 mg/mL,相关系数分别为0.999 8、0.999 7,废液排量分别为23.73~23.86、78.78~78.85 mL,最低检出限为0.01 mg/mL,重复性相对标准偏差(RSD)为0.069%~2.224%,加标回收率为98.250%~101.500%。系统稳定性、可靠性、准确性、实时性高,试剂消耗量与废液排量低,氨氮指数在线监测系统可以精准、高效地分析地表I~V类水中的氨氮指数,为环境保护和地表水质监测提供技术支持,尤其适用于实验室、站房式、浮漂式、便携式在线水质监测。 相似文献
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采用K301在线自动监测仪测量水中的氨氮,分析结果表明具有良好的准确度与精密度,RSD在0.00%~1.5%之间,实际水样的检测结果与纳氏试剂比色法的相对误差在0.3%~1.4%之间,具有良好的一致性。 相似文献
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SK-100实验室氨氮自动分析仪测定水中氨氮的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
我国环境监测中测定氨氮的国标方法为纳氏试剂分光光度法、水杨酸分光光度法、蒸馏—滴定法和电极法。SK—100型实验室氨氮自动分析仪采用纳氏比色原理,用冷光源和窄带干涉滤光技术以及单片机数字处理技术,不仅实现了样品分析的自动化,同时能保证数据的准确性,可广泛应用于地表水和工业废水的监测。 相似文献
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以纳氏试剂比色法为监测原理的氨氮分析仪为研究对象,通过对比试验以及氨氮分析仪在不同污水厂的实际运行,探讨氨氮分析仪在污水厂水质在线监测中的应用情况。 相似文献
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尹丽欣 《仪器仪表与分析监测》2007,(3):42-42,46
文章把WTW—trescon氨氮在线全自动监测仪测定工业废水中的氨氮与常用的纳氏试剂比色法(GB7479—87)进行比对。分析结果表明,在线全自动监测仪测定工业废水氨氮简便、快速,与纳氏试剂比色法具有相同的准确度和精密度,适用于工业废水的现场连续监测分析,便于加强环境管理。 相似文献
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使用纳氏试剂分光光度法和气相分子吸收光谱法分别测定水体中的氨氮,从方法性能指标(校准曲线、检出限、测定下限、准确度、精密度)和实际样品测定结果两个方面进行比较研究,并对两种方法的测定结果进行t检验和F检验。结果表明,两种方法的测定结果无显著性差异(p<0.05),且均满足实验室质量控制要求。与分光法相比,气相分子法有检出限低、对环境污染小、分析速度快、自动化程度高的优点,适用于大量样品的分析。纳氏试剂分光光度法适合少量样品的快速测定。 相似文献
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本研究中,我们成功制备出了磁性强阳离子交换(MSCX)树脂,并将其用于萃取鸡蛋中的三聚氰胺(MEL)。通过将鸡蛋样品、萃取溶液和磁性树脂进行混合并搅拌10 min,然后通过外加磁场将吸附有MEL的MSCX树脂与样品基质分离。实验中对MSCX树脂用量,萃取时间及淋洗,洗脱条件等影响萃取效率的诸多参数进行了优化。采用液相色谱串联质谱分析从树脂上洗脱的MEL,方法的加标回收率在77.2%~99.3%之间。建立的方法可以成功地应用于测定鸡蛋中MEL的含量。 相似文献
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本研究采用直接固体进样-石墨炉原子吸收法(SS-GF AAS)测定沙棘维生素P粉中重金属铅的含量。通过对石墨炉工作程序的优化,同时采用基体改进剂技术,最终得到稳定而准确的结果,其结果与液体进样使用ICP-MS测量结果一致。本方法中RSD 2.29%-11.70%,回收率91.75%-114.05%,检出限0.0075ng。与湿法消解方法相比较,该方法无需样品前处理,具有简便、快速特点,同时可避免样品的稀释以及试剂的交叉污染带来的分析误差。 相似文献
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建立了基于迈克尔逊干涉结构的深度分辨倾斜激光波数扫描干涉测量系统,对双层树脂基复合材料样品的压缩位移场分布进行了测量及分析。首先,采用分布反馈(DFB)半导体激光器对双层树脂基复合材料样品进行波数扫描干涉测量;然后,采用随机采样傅里叶变换(RSFT)计算双层树脂基复合材料样品加载前后的相位差;最后,运用解卷绕算法对材料样品加载前后的相位差进行解卷绕,计算出各表面压缩位移场的分布。实验结果表明,压缩位移场分布的测量精度达到±100nm,深度方向的轮廓分辨率约为0.41mm,最大测量深度约为52mm。该方法能够准确测量出树脂基复合材料的压缩位移场分布,测量时不受树脂基复合材料内部切面弹性模量的影响,具有测量精度高,系统稳定,抗干扰能力强等特点。 相似文献
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基于散射式近场探测原理,设计并搭建了散射式太赫兹扫描近场光学显微系统(THz s-SNOM),实现了纳米量级空间分辨率的太赫兹近场显微成像测量。该系统以输出频率范围为0.1~0.3THz的太赫兹倍频模块为发射源,通过纳米探针的针尖产生纳米光源与样品相互作用,并将样品表面的倏逝波转化为可在远场测量的辐射波。通过探针逐点扫描样品表面,同时获得了样品表面的形貌图和太赫兹近场显微图。该系统的显微分辨率取决于探针针尖的曲率半径,而与太赫兹波的波长无关。使用该系统测量了金薄膜/硅衬底样品和石墨烯样品的近场显微图,结果表明,近场显微的空间分辨率优于60nm,波长与空间分辨率之比高达λ/26000。 相似文献