光纤偏振模色散和偏振相关损耗对超短光脉冲传输的影响

采用琼斯矩阵与随机耦合的波片模型（Monte—Carlo）方法相结合研究了在偏振模色散（PMD）和偏振相关损耗（PDL）共同作用下，超短光脉冲经光纤传输后脉冲被展宽的统计特性。结果表明，通过与偏振模色散的相互作用，偏振相关损耗可以引起光脉冲的压缩效应，同时脉冲展宽和压缩的概率密度分布与光纤偏振模色散及偏振相关损耗的相对数值存在十分密切的关系。在偏振模色散为0．05ps／km^1/2，光纤长度为75km的情况下，当偏振相关损耗均值从0．07dB／km增加到0．49dB／km时，光脉冲被压缩的概率从4．3％增大到92．9％。无论何种情况下，脉冲压缩和展宽的概率密度均可用瑞利-麦克斯韦分布函数进行描述。     

光栅致双折射引起偏振相关损耗的理论分析

应用耦合模理论,给出均匀布拉格光纤光栅在考虑光栅致双折射时的透射与反射系数的解析式,按照测量偏振相关损耗(PDL)的确定性与非确定性两种方法,推导出了均匀布拉格光纤光栅中偏振相关损耗的解析公式。理论分析表明,该公式能够准确分析弱双折射光纤或者各向同性光纤上写入的均匀布拉格光纤光栅的偏振相关损耗特性,同时数值模拟高双折射光纤上写入的均匀布拉格光纤光栅偏振相关损耗特性,得到的结果也与已有实验曲线相近。     

光纤中的极化相关损耗

首先阐述了光纤中极化相关损耗（PDL）的基本概念，然后着重分析了极化相关损耗对系统偏振模色散（PMD）产生的影响，最后比较了测量极化相关损耗的不同方法的适用条件及性能差异。     

偏振相关损耗和PMD共同作用对群时延带来的影响

本文利用琼斯矩阵对偏振模散(PMD)，偏振相关损耗(PDL)以及偏振相关增益(PDG)在光纤通信系统中的联合作用下差分群时延的性质进行了研究。提出了PDL和PDG对系统影响的等效性，研究了PDL和PMD级联的模型，比较了PDL和PDG对系统影响的大小，并用数值模拟验证了理论的正确性。     

熔锥型宽带耦合器偏振相关损耗研究

研究了熔锥型宽带耦合嚣的偏振相关损耗(PDL),发现构成宽带耦合嚣的两熔融光纤结构上的不对称是导致其PDL不能为0的根本原因。通过对宽带耦合器结构的优化设计,报道了目前PDL最低的宽带耦合器：1310nm窗口PDL≤0．05dB;1550nm窗口PDL≤0．07dB。     

偏振相关损耗对偏振复用系统信道正交性的影响

在偏振复用系统中,利用两个正交的偏振光作为不同的信道在同一根光纤传输,从而达到使传输信息量加倍的目的.在信号接收端,需要将这两个信道重新分离,分离时除了偏振模式色散(PMD)之外,还会受到偏振相关损耗(PDL)的影响.根据PDL的原理,推导了偏振复用系统中两正交信道夹角与PDL的数值关系,计算了PDL大小对系统的影响.并依据理论模型构建了实验系统,对光纤一个主轴光强进行衰减,描绘出信道间串扰和PDL之间的实验曲线,验证了理论分析的有效性.实验表明,PDL调至最小的时候.若要求串扰控制在-10 dB以内,差分群时延(DGD)应该压制在10 ps以内;当DGD增大到140 ps以后,被标记和没被标记的信道信号强度达到了1:1,系统则完全无法工作,在接收端无法分离信道.本项研究对于保证偏振复用系统的稳定性具有一定的指导意义.     

极化相关损耗和偏振模色散的相互作用及其对传输性能的影响

阐述了高速光纤传输系统中极化相关损耗(PDL)和偏振模色散(PMD)的相互作用,指出了PDL效应会使系统的PMD的大小和概率密度分布发生变化,同时PMD效应也会对系统的PDL的大小和概率密度分布产生影响,两者相互作用会导致系统性能的显著下降。     

利用ZEMAX软件分析光器件中的PDL

文章简要介绍了常用的偏振相关损耗(PDL)的计算和分析方法,在此基础上利用 ZEMAX软件的POLARIZATION ANALYSIS(偏振分析)功能对光器件的PDL进行了分析和计算,并且与常用数学软件的计算结果和实际器件的测量结果进行了比较,证明了利用ZEMAX软件模拟计算和分析光器件PDL的可行性和准确性,说明了利用ZEMAX软件不仅可以提高设计人员的工作效率,而且能取得精确的计算和分析结果.     

一种新的基于光纤光栅测电磁场的解调系统

提出了一种新的使用光纤光栅测电磁场的方法,依据磁场与光纤光栅偏振相关损耗(PDL)成正比的原理,运用1/4波片转化左、右旋圆偏振光为线偏振光,根据所检测出的两偏振光光强推算出磁场强度,并论证了其可行性.     

偏振相关损耗与偏振模色散的特性影响及偏振模色散的最新测量方法

研究在偏振模色散（PMD）和偏振相关损耗（PDL）共同作用情况下光传输链路的输出信号偏振态相关函数。研究表明，在光传输链路中偏振模色散的值和偏振相关损耗的值分别不变的情形下。输出偏振状态相关函数的线宽随着偏振相关损耗的增大而增大，随着偏振模色散的增大而变窄。虚拟广义米勒矩阵测量方法（VGMMM）结合了矩阵测量法和微分测量法的优点并克服了它们的不足。可以在对输入偏振态不确定的情况下使用相对较大的频率间隔获得低噪声、高精度的PMD数据，所测结果的准确度高于其它方法。     

单模光纤中椭圆双折射下偏振模色散特性研究

为了分析椭圆双折射对偏振模色散的影响,将模型中的偏振模色散(PMD)矢量及极化相关损耗(PDL)矢量设定为椭圆偏振矢量,应用保偏光纤(PMF)级联模型和蒙特卡罗仿真方法,研究在PDL影响下的PMD统计特性。研究表明,PMD和PDL矢量的椭圆偏振程度对PMD的统计分布和均值大小均会有影响;在椭圆偏振和PDL的联合影响下,PMD的统计分布为Maxwell和Gaussian分布的合分布。研究结果对偏振模色散的测试、补偿和系统设计均具有参考价值。     

CO2激光对称烧写长周期光纤光栅的方法研究

提出了一种利用高频脉冲CO2激光对称烧写长周期光纤光栅(LPEGs)的方法.线聚焦的CO2激光束经过两面交换120°的全反射镜在光纤的周期方向形成了3束对称、等强度的照射,消除了单侧照射写入引起的折射率改变不均匀,使得烧写出的LPEGs的弯曲光谱特性在光纤的角向均匀一致,最大偏振相关损耗(PDL)降低为0.28 dB.此外,该方法制作的LPFGs的通带插入损耗小于0.5 dB,损耗峰3dB带宽小于10 nm.     

机械微弯长周期光纤光栅的制备及其光学特性研究

利用两个交替放置的周期性刻槽板对单模光纤（SMF）施力,形成了机械微弯长周期光纤光栅（LPFG）。实验研究了LPFG的偏振相关损耗（PDL）、刻槽板空间周期和压力等参数对透射谱的影响。结果表明,压力可改变LPFG的透射谱特性,最大损耗峰值可达24．6dB;在1551．9nm处,LP13包层模的最大PDL约为7．42dB...     

偏振相关损耗对光通信系统的影响及对其补偿的研究

本文用Jones矩阵法对光通信系统中偏振模色散(PMD)和偏振相关损耗(PDL)的共同作用进行了分析，用数值模拟分析了它们共同作用对差分群时延的影响。介绍了PDL补偿系统。     

偏振相关损耗对偏振模色散补偿系统性能的影响

数值分析了40Gb／s占空比50％的归零码（RZ）、占空比38％的RZ和载波抑制归零码（CSRZ）3种不同码型系统中偏振相关损耗（PDL）对偏振模色散（PMD）补偿的性能，并和不考虑PDL的情况作了比较。结果表明，由于PDL的存在，导致补偿系统的补偿性能恶化严重，使得损耗概率增加，眼图张开度减小；3种码型中，CSRZ码型系统的缓解性能比其他两种码型要好。     

光纤通信系统中偏振损耗对偏振态的影响

推导出具有偏振相关损耗(PDL)器件的Stokes模型,研究了光纤通信系统中PDL对光信号偏振态(SOP)的影响。数值模拟结果表明,入射信号光偏振度(DOP)小于1时,PDL对出射信号光的DOP和强度有直接影响;当入射光DOP等于1时,PDL对出射信号光的DOP没有影响,但随PDL的增加,出射光强度迅速减小,且信号光的SOP变化加剧。     

偏振模色散及偏振相关损耗对光传输链路相关特性的影响

在同时考虑偏振模色散(PMD)及偏振相关损耗(PDL)情况下，分别通过理论和蒙特一卡罗方法研究了光传输链路的输出信号偏振态相关函数。首先，从理论上得到了光传输链路的输出信号偏振态相关函数的解析表达式，而后，利用蒙特一卡罗方法进行了模拟研究，理论和模拟的结果能很好地吻合。研究结果表明，当光传输链路的偏振模色散值不变时，随着传输链路偏振相关损耗的增大，输出偏振态归一化自相关函数的线宽变宽；而在光传输链路的偏振相关损耗一定的情况下，随着光传输链路的偏振模色散的增大输出偏振态归一化自相关函数的线宽变窄。     

外界条件对FBG反射偏振相关损耗特性的影响

利用光纤光栅反射偏振相关损耗对外力场信息的变化进行监测,提高了测量性能,并研究了光纤布拉格光栅(FBG)反射偏振相关损耗(RPDL)随外界条件的变化。运用耦合模理论得出外界条件变化量与反射偏振相关损耗间的关系式,并模拟了温度、应力、压力的改变对反射偏振相关损耗谱线的影响。仿真结果表明:光纤光栅反射光的偏振相关损耗对外界温度、应力的变化不敏感,但却明显地依赖外界压力的变化。     

用偏振模色散模拟器加偏振片实现带内光信噪比检测

提出了一种基于偏振模色散(PMD)模拟器加偏振片的带内检测光信噪比(OSNR)的方法,理论分析了检测方法的工作原理,证明了方法不受光纤链路色散和PMD的影响,并且与信号偏振态、调制格式及传输速率无关。测试结果表明:在9dB到34dB的测量范围内,本文检测方法的测量误差在0.5dB内;在1dB的测量误差范围内,对偏振相关损耗(PDL)的容忍范围为1dB。     

无源光器件的偏振相关损耗测量

介绍 偏振相关损耗(PDL)现已成为描述无源光器件特性的一项标准指标.当前主要有两种PDL测量方法:偏振扫描法和四状态法,后者一般也被称作Mueller法.本文将对这两种测量方法进行简要的介绍,概要说明其主要难题和主要的误差来源,并对其在当前无源器件测量中的实际应用进行比较.