微型金属复合杜瓦瓶漏热测试系统的设计

杜瓦瓶是红外探测器的核心组件,其质量会直接影响整个热成像系统的可靠性。为了能更好地检测杜瓦瓶的真空特性,本文设计了一套用来测试杜瓦瓶液氮保持时间的设备,通过测试器件开路电压、液氮挥发等参数确定杜瓦器件真空的性能变化。本文对杜瓦瓶漏热进行了理论计算,并且进行了大量实验。根据实验数据与理论计算的比较可以看到,该设备具有较好的测量精度,达到了预期的设计目标。     

红外探测器用玻璃杜瓦瓶的热漏分析与试验

本文对低温下使用的红外探测器玻璃杜瓦瓶的常用结构——杯型杜瓦瓶,进行了热漏计算、试验和分析。为今后延长杜瓦瓶中液氮使用时间所采取的绝热措施和结构设计等提供了根据。试验中用两种结构尺寸的玻璃杯型光伏型锑化铟红外探测器用杜瓦瓶,进行了一次灌满液氮,待液氮完全汽化所需时间的试验。试验结果与计算结果基本相符。     

InSb红外探测器结构杜瓦瓶烘烤放气分析

一、前言大部分红外探测器都在低温、真空环境下工作,需要致冷器。红外探测器结构杜瓦瓶(以下简称杜瓦瓶)是致冷器的一种,它既是探测器的组成部分,又是致冷剂的贮存装置。杜瓦瓶内残余气体种类和数量直接影响探测器的性能和致冷剂贮放时间。杜瓦瓶一般分为金属和玻璃两种类型,玻璃类型用得较多。为了保证杜瓦瓶的静态真空度,同一般电真空器件一样,必须选材合理、密封可靠、除气彻底、消气有     

微型斯特林制冷器与杜瓦瓶组件耦合漏热分析

对杜瓦瓶漏热、微型斯特林制冷器冷指与杜瓦瓶组件耦合漏热进行了分析，得出斯特林制冷器与杜瓦瓶组件耦合时漏热量与微型节流制冷器和杜瓦瓶组件耦合时漏热量的区别，提出了斯特林制冷器与杜瓦瓶组件耦合时漏热量不但包括传统的三项漏热，而且应加上残余发子热传导引起的漏热量和穿棱漏热量。并给出了耦合时应该根据不同的制冷方式采取不同结构的建议。     

红外器件用氩弧焊工艺及专用焊机的研制

红外器件的性能和使用寿命与器件和杜瓦瓶有关。杜瓦瓶的使用寿命与“真空度”保持时间有关。封接环的焊接质量又决定着真空度保持时间。因此,本文着重讨论保证封接环焊接质量的有关问题。目前封接技术有如下四种方法:即直接熔封、烙铁锡焊、胶封和氩弧焊焊封。由于氩弧焊,特别是高频脉冲氩弧焊性能优越,质量可靠。因此,我们选用703所JHD-05-3型焊接电源,研制成焊接玻璃杜瓦瓶封接环的专用焊机。经过工艺试验,于1982年成功地用于交货产品的焊接。     

利用流量法测量微型金属杜瓦瓶热负载及其计算方法

详细讨论了微型金属杜瓦瓶热负载的测量原理和方法,提出了一种新的流量法测量微型金属杜瓦瓶热负载的数据处理方法.流量法通过流量计检测单位时间内的液氮蒸发量.利用相变在相同温度和压力下两相间的比焓差计算热负载,标准工况和测量工况下的计算因子分别为4.151和5.212.这种新方法通过检测微型金属杜瓦瓶内管冷端最低温度下的质量...     

真空度对红外探测器／D64JT7型系列杜瓦瓶性能的影响

介绍了真空度对本系列杜瓦瓶性能影响的研究方法和研究结果，得出了真空压强与热负载的关系曲线。从红外探测器使用出发，讨论了真空完善性、真空寿命、影响热负载指标因素等问题。     

红外探测器微型封装杜瓦瓶的传热学分析

红外探测器微型封装杜瓦瓶的传热学分析航天工业总公司三院八三五八所郭立春本文对多元红外探测器微型封装杜瓦瓶进行传热学方面的分析，内容包括：漏热分析和冷指底部传热分析。本文认为：多元微型杜瓦瓶的漏热直接影响节流式微型制冷器的耗气量，埋入式电极引线和薄膜式...     

一种新型红外探测器／杜瓦瓶的热耗计算

扫积型红外探测器是目前大量使用的一种新型红外探测器,在研制这种红外探测器时,应对这种探测器/杜瓦瓶的热耗(漏热)进行计算,以便对制冷器的制冷功率等参数提出合理的要求。本文从一般传热学原理出发,对该探测器/杜瓦瓶所发生的辐射、传导、焦耳热等漏热进行了计算,从而得到了该探测器/杜瓦瓶所消耗的热量——热耗,并与国内外有关资料、数据进行了比较。     

开展全面质量管理提高了杯式杜瓦瓶成型的质量

红外器件用的玻璃杜瓦瓶是研制、生产红外器件不可缺少的重要组成部分。它对红外器件既提供了高真空环境,又提供了液氮致冷空间。玻璃杜瓦瓶型式中,杯式是目前常用的一种。长期以来杜瓦瓶生产一直采用手工操作。劳动强度大,效率低。不仅产量少,质量问题也不少。如歪斜、尺寸超差、重复性差等。这种情况对红外器件的发展有一定影响。开展全面质量管理活动后,领导提出组织QC小组解决玻璃杜瓦瓶成型的质量问题。我     

美国“红外工业公司”的InSb和PbS探测器

一、6800系列光伏型锑化铟探测器玻璃杜瓦瓷液氮致冷,光谱范围3.0～5.0微米。特性见表1: 可用于分析仪器、工业程序控制和军用系统。(如,导弹跟踪和制导器件)。根据不同用途的需要可选用不同尺寸结构的杜瓦瓶(6800、6802、6804型使用侧窗杜瓦瓶,液氮保持时间分别为0.5、2、4小时:6840、6842、6844型则使用端窗杜瓦瓶)。典型的杜瓦瓶结构如图1和图2所示。     

脉冲激光高度表

本文讨论了关于研制对由发射器传播到地面而又返回到接收器上的激光脉冲的往返时间进行测量,就可确定飞机高度的这样一种装置。发射光源是安装在杜瓦瓶内的砷化镓激光二极管,并通过自动调节的焦耳—汤姆孙致冷器玲却到80°K。一个冷阴极调制器被用来激励激光器,发射能由多元发射透镜准直。接收器与发射器同轴安装,并采用卡塞格伦望远镜的形式。然后,用硅光二极管经过低噪声场效应管前置放大激励高增益视频放大器来提供探测。用一个改进的高速计数器对往返时间进行测量,并且输入辅助电路把高度信息提供给飞机磁带记录系统。将系统的设计参数与讨论的有关主要部件设计的特点和问题一起予以介绍,包括杜瓦瓶、激光调制器、发射器和接收器光学、以及接收探测器/放大器组合的设计。杜瓦瓶的设计问题起因于以低的电感馈给杜瓦瓶中的激光器激励脉冲的需要,和在有害的环境条件下,将真空保持相当长的一段时间的必要性。激光调制器的设计提出了用快速的大电流脉冲(40毫微秒脉冲宽度,200安)激励激光器的问题。为了具有快速、灵敏和低噪声的性能,探测系统的设计需要把探测器/前置放大器组合最佳化。还提到了有关这个装置的工程试验、环境试验和运用试验以及给定的质量指标。     

红外探测器封装微型杜瓦瓶结构与分析

本文介绍了用于多元红外探测器封装的微型杜瓦瓶的三种结构形式，并分析了其漏热、电学性能和工艺性，通过比较对今后我国红外探测器封装技术作出预测。     

红外探测器封装微型杜瓦瓶结构与分析

本文分析了用于多元红外探测器封装的微型杜瓦瓶的三种结构形式，并分析了其漏热，电学性能和工艺性，通过比较对今后我国红外探测器封装技术作出预测。     

超长线列红外探测器杜瓦真空寿命评估方法

针对超长线列红外探测器杜瓦具有容积大、零部件种类多、材料放气源多,特别是集成式超长线列杜瓦与内充3 MPa高压氦气的直线脉管冷指封装集成等特点,基于材料解析放气及渗透理论,建立了超长线列杜瓦组件真空寿命评估模型,对分置式与集成式超长线列杜瓦的真空寿命进行了计算,其真空寿命预计值均可以达到2年。设计了一种杜瓦真空度在线监测结构对这两类杜瓦的真空度进行了实时监测,分置式及集成式杜瓦真空寿命预计值与实测值相对误差分别为5.8%和6.96%。因集成式杜瓦真空寿命估算较为困难,对其热负载通过制冷性能进行实验验证,其热负载2年后未发生明显变化。     

金属杜瓦瓶微小漏率检测

器件的漏气率大小是红外探测器搁置和使用寿命的关键因素之一,也是判断军用多元金属杜瓦瓶真空完善性的重要指标,特别是常规漏率检测手段难以探测微小漏率是长久以来影响杜瓦瓶成品率的重要因素。文中简要介绍几种真空高灵敏度微小漏率测试方法、基本原理和测试结果,针对杜瓦瓶的气密性要求采用相应微小漏率测试手段,并在生产中获得应用。     

红外探测器杜瓦组件的力学薄弱结构优化设计方法

通过对探测器杜瓦组件的悬臂梁结构进行理论分析,提出了杜瓦组件力学薄弱结构的优化设计方法,并利用Ansys软件对优化前后的杜瓦组件结构进行了模拟分析。结果表明,杜瓦组件的模态一阶基频大幅提高,比平行支撑结构的组件增加了130%,比常规无支撑结构的组件增加了317%。通过试验验证后发现,杜瓦组件的抗振动性能也得到了大幅提高,可以抗住15g的耐久随机振动、17.6g的短时大量级随机振动以及2000g的机械冲击。     

半导体致冷器与探测器杜瓦瓶钎焊的实验研究

本文论述了四级微型半导体致冷器与红外探测器金属杜瓦瓶的钎焊方法。实验证明:预先在致冷器底面和杜瓦瓶底座挂上钎料,采用钎剂和保护气体加热钎焊,可降低加热温度,提高钎焊质量;采用快速冷却可大大减小由于长时间热滞所导致致冷器性能的下降,从而为半导体致冷的红外探测器提供了最佳的组装方法和实验参考。     

多元杜瓦瓶金电极引线技术

多元杜瓦瓶金电极引线技术方 （航天工业总公司第三研究院八三五八所天津３００１９２）多元玻璃杜瓦瓶小型化的电极引线一直为人们关注。本文采用在杜瓦瓶冷指表面敷涂金粉，添加助熔剂使金粉熔融牢固地粘结在玻璃表层，再用激光刻线。现在已经能刻线宽为０．３ｍｍ的线?..     

红外跟踪系统用的摆动(0°-90°)金属杜瓦瓶

本文介绍红外跟踪系统中用于致冷多元红外器件的特殊金属杜瓦瓶。其最大特点是在红外跟踪系统俯仰跟踪目标时,在0°-90°角范围内摆动的过程中,能保证对红外探测器件的可靠致冷。经试用,得到了满意的结果。本文着重介绍这种杜瓦瓶的结构设计和试验情况。