基于IEEE 1149.4标准的模拟电路功能性测试模型研究

IEEE 1149.4混合信号电路边界扫描测试总线标准为模拟电路的可测性设计提供了一个基本的框架,但具体的实现方法需要研究人员进行设计。用开关矩阵、单片机、dds芯片构成了基于IEEE 1149.4标准的模拟电路功能性测试模式。经可控性、可观性试验,能够反映IEEE 1149.4标准中针对模拟电路的边界扫描构架与思想,为更多将边界扫描应用于模拟电路的可测性设计中去,打下了良好的基础。     

建立在模拟集成电路上的边界扫描设计

对模拟芯片边界扫描测试方法进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想构建了模拟芯片边界扫描测试电路,运用了数字移位寄存器和模拟开关构成模拟边界扫描单元,并编写了TAP控制器及其它电路的VHDL代码,通过实验仿真验证了测试电路的可行性。测试电路可以完成模拟芯片的简单互连测试以及性能测试。     

基于边界扫描的混合信号电路可测性结构设计

在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,设计并实现了符合标准的混合信号电路边界扫描可测性结构各组成部分,包括测试访问口控制器、数字边界扫描单元、模拟边界扫描单元、测试总线接口电路及测试寄存器;构建验证电路进行了测试验证。测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。     

基于单片机的边界扫描实验系统的设计与实现

为了将边界扫描技术构架更好地应用于电路可测性设计中,在介绍边界扫描结构、测试基本原理的基础上,提出了运用单片机模拟边界扫描时序,控制被测电路进入相应边界扫描状态的方法;利用模拟开关控制整体扫描链路的转换,同时结合现有CPLD下载电路,完成了被测电路核心逻辑、外围管脚的设置,最后实现了基于IEEE1149.1测试访问门和边界扫描结构标准的边界扫描实验系统;实验系统可以完成IEEE1149.1的所有边界扫描测试,并具有实现简单、操作灵活等特点。     

基于IEEE1149.4标准的K节点故障诊断方法研究

IEEE1149．4标准为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法；在IEEE1149.4标准所提出的模拟互连测试结构的基础上，结合K节点故障的可测性原则和测试节点选择方法，实现对常规的复杂无源模拟电路网络进行符合IEEE1149.4标准的可测性设计进行故障诊断，并通过实例验证该方法的有效性。     

基于IEEE1149.4的差分测试方法的研究与应用

IEEE1149．4标准（DOT4）为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法,对于数模混合差分电路的互联测试,一直是数模混合电路中巨联测试的重点之一,介绍了一种基于此标准的差分互联电路的测试方法以及差分模拟边界扫描单元的应用,对混合差分电路实现了简荤互联和扩展互联的边界扫描测试,从而提高了差分电路互联测试的能力。     

基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究

针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。     

基于AVR单片机的边界扫描测试控制器设计

根据边界扫描测试IEEE1149.1技术标准,采用AVR单片机以及边界扫描总线控制芯片74ACT8990设计了边界扫描测试控制器;该控制器通过串口与计算机通信,将计算机的指令转化为符合边界扫描标准的测试时序信号,注入被测板;并且采集被测板响应,送回计算机进行故障诊断;该测试控制器结构简单,使用方便而且成本低;通过实际测试验证,测试控制器产生的测试信号符合IEEE1149.1系列标准,可以用于功能测试、数字电路故障诊断以及边界扫描研究。     

STA400TEP芯片在模拟电路BIT设计中的应用研究

在大规模集成电路中,模拟信号的测试是一个重点和难点;介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线标准和支持IEEE1149.4标准的STA400TEP边界扫描芯片,对STA400芯片在模拟电路机内测试中的应用进行了研究,提出了一种基于子网络撕裂诊断法的边界扫描结构置入的测试性设计方法,并以某驱动电路为研究对象对此方法进行了实验验证,实验结果表明STA400TEP的置入能够实现电路板的可观性和可控性,能够准确地将故障定位到子网络中。     

基于边界扫描的模拟电路BIT技术研究

边界扫描技术在模拟电路的可测性设计大多仍停留在IEEE1149.4标准所规定的模拟测试总线上,并没有做到真正意义上的内建自测试设计;针对模拟电路信号提取和比较相对困难的测试难点,提出采用方波脉冲作为测试激励信号的方法,并以模拟开关为辅助桥梁,设计了基于边界扫描的模拟电路BIT结构;通过各个模块功能的时序仿真证明了该结构设计的合理性,并以集成运放uA741作为被测电路,通过信号上升沿脉冲计数充分证明该结构的可行性。     

基于虚拟扫描链的混合信号电路测试方法研究

针对目前存在的混合信号电路测试效率不高的现象,在混合信号测试总线(IEEE1149.4标准)基础上引入虚拟扫描链的思想,并构建了一种混合信号虚拟边界扫描测试结构,在详细阐述该结构的工作原理基础上,在Quartus II软件中对混合信号虚拟边界扫描测试结构的功能性测试流程进行了仿真;通过仿真验证表明该结构完全兼容IEEE1149.4标准中的指令,对促进边界扫描技术的发展具有积极的意义。     

边界扫描在数模混合电路板级测试中的设计与应用

针对飞控系统某数模混合电路板测试需求,在不利用外部信号源、信号采集设备的条件下,利用边界扫描技术进行测试系统设计。介绍了PCI-410边界扫描核心套件和ScanWorks测试软件,对边界扫描测试方法进行研究,详细说明了测试系统方案设计、测试流程开发步骤以及测试程序执行方式,并通过实际测试,验证了设计的可行性,为数字电路板和简单的数模混合电路板的测试提供了实用的测试方法和手段,具有很好的应用价值。     

基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统

采用现场可编程门阵列（FPGA）和PCI9052目标接口芯片，实现了符合PCI总线规范和IEEE1149．1标准的超大规模集成电路边界扫描测试系统，具有对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能，结构简单、速度快、工作可靠。     

即插即用的智能传感器IEEE P1451.4标准研究

IEEE P1451.4是关于即插即用的模拟传感器的新标准,该标准在传统传感器的基础上定义了一种自我识别和描述的机制,这种机制大大减少了系统的配置和诊断时间;对1451.4传感器的模型和结构进行了研究,具体分析了用于存放传感器信息的数据表单TEDS的结构及用于传输模拟和数字信号的混合模式接口,并简要介绍了数字接口的通信协议,最后指出了IEEE1451.4与IEEE1451的其他标准一起将成为智能传感器的发展方向.     

ESAD中解保电源信号识别优化方法

针对ESAD解除保险过程中,无法准确识别解保电源信号电压幅值的问题,提出了ESAD中解保电源信号识别优化 方法。该方法采用“数字量+模拟量”的识别方法,其中光耦隔离电路作为数字量识别方式,AD采集电路作为模拟量识别方式, “数字量+模拟量”信号共同作为解保条件,以模拟量识别值作为起始判断门限,数字量信号进行有效判断,可提高ESAD的作用 可靠性。验证试验表明,采用“数字量+模拟量”识别方法可有效识别解保电源信号且保证ESAD的作用可靠性,该方法具有可 行性。