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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 654 毫秒
1.
BGA封装器件焊点缺陷X-射线检测法   总被引:3,自引:1,他引:2  
讨论了BGA器件焊接的特点,并对BGA器件焊接过程中产生的缺陷进行了阐述,采用X-射线检测仪检测了BGA封装器件安装焊点的几种常见缺陷,分析、阐述了其图像与相应缺陷的关系,结果表明X-射线检测方法能够准确地检测出BGA封装器件安装中的各种焊点缺陷,并能够自动计算BGA封装器件安装焊点的空洞率,对空洞缺陷的快速检测和预防具有实际意义.  相似文献   

2.
简要介绍了热风回流焊接的常规工艺及影响焊接质量的关键工艺因素;总结了焊接的机理,结合实际工作经验,详细地描述了在没有模板、锡膏及回流焊炉等专业设备的条件下,使用电热板应急焊接BGA器件的过程及注意事项;通过引用大量的研究结论,从温度曲线和助焊剂法这两个最为关键的工艺参数分析了加热板法焊接BGA的可靠性并结合实际经验给出了提高可靠性的具体方法。最终全面总结了采用电热板使用助焊剂高可靠焊接表面贴装器件(SMD),特别是BGA器件的详细工艺流程。  相似文献   

3.
BGA元件与焊接   总被引:1,自引:0,他引:1  
在介绍球栅阵列(BGA)器件的出现及优点的基础上,介绍使用BGA-3592热风回流焊接工作台焊接塑封BGA(PBGA)芯片→TM320C6201GJC200(C31-A-04AJR5W)的过程,并对焊接的各阶段的注意事项进行简要探讨。  相似文献   

4.
采用间接耦合的方法对BGA(Ball Grid Array)器件ZX2101的回流过程进行有限元模拟,得出回流结束后BGA器件整体、PCB以及芯片基板的温度分布,同时仿真分析了焊球阵列部分的温度分布随时间变化的情况,据此得到回流结束后PCB与芯片基板的变形。在设定的温度边界条件下,得到了四点回流曲线,模拟结果与实测结果相吻合。  相似文献   

5.
有铅焊料焊接无铅BGA回流参数探索   总被引:2,自引:0,他引:2  
航天电子产品尚未允许采用无铅焊接,而航天电子产品中采用的进口元器件多为无铅器件,因此需要对有铅焊料焊接无铅元器件进行研究。通过对无铅焊球和有铅焊料的焊接特性分析,设计数种回流参数,进行回流焊接试验,并对试验结果进行焊接分析,得出回流峰值温度为228℃~232℃,液相线(217℃)以上时间为50s~60s的回流曲线能较好完成有铅焊料对无铅BGA的焊接。  相似文献   

6.
随着BGA、CPS封装等表贴器件的大量应用,传统的人工视觉检测、自动光学检测等检测技术对其底部引出端焊接质量的检测几乎无能为力。研究并给出X射线检测方法和检测流程,同时对该方法应用于PCBA焊接质量检测的典型案例进行了分析。按此检测方法不仅可以高效、便捷地识别PCBA中常见的焊接缺陷,同时可以指导PCB设计及焊接工艺改进。  相似文献   

7.
芯片级封装器件因其小尺寸、低阻抗、低噪声等优点广泛应用于电子信息系统中.从器件封装、印制板焊盘设计、焊膏印刷、贴装以及回流焊接等方面探讨了0.5 mm间距CSP/BGA器件无铅焊接工艺技术.  相似文献   

8.
拆除及贴装BGA/CSP芯片的基本步骤包括:建立温度曲线;拆除不良的芯片;清理准备焊盘;助焊剂或焊锡膏涂敷;回流焊接;检测。  相似文献   

9.
汪思群  王柳 《电子工艺技术》2011,32(3):152-155,172
SMT(表面贴装技术)与SMD(表面贴装器件)不断发展更新,BGA顺应时代潮流成为高频化、高I/O数及小型化封装的最佳选择.但是BGA焊接后焊点质量的保证及其返修却是令生产者头疼的问题.简要介绍BGA器件、BGA器件发展现状和应用情况,重点论述BGA生产中应用的检测方法和返修工艺.  相似文献   

10.
以BGA器件为研究对象,在BGA回流焊接二次塌陷百分比、最小电气间隙的不同水平时,计算分析技术指标参数变化趋势,研究一种高可靠性安全贴装BGA最大直径优选算法,能够指导设计人员快速匹配BGA设计与器件的正确选型,确定了BGA高可靠性安全贴装判据,提高设计工艺性。提出一种自动贴片机高精度光瞄测试对中识别BGA焊球缺陷特征的检测和统计方法,通过研究HR600返修系统高精度贴装技术,解决了BGA底部标识(Mark)点使用自动贴片机不识别无法贴装的技术难题,当BGA焊球中心位置偏差较大且焊球最大直径小于10%时,从实践中推荐BGA优化工艺参数,在最大程度上减少BGA桥连、锡球多余物等焊接缺陷发生的概率,提高工艺过程能力和可靠度,实现降本增效可满足多品种、小批量科研生产的需要,具有一定的实用价值。  相似文献   

11.
随着表面安装技术的迅速发展,新的封装技术不断出现,面积阵列封装技术成了现代封装的热门话题,BGA和FlipChip是面积阵列封装的两大类型,它们作为当今大规模集成电路的封装形式,引起电子组装界的关注,而且逐渐在不同领域得到应用。BGA和FlipChip的出现,适应了表面安装技术的需要,解决了高密度、高性能、多功能及高I/O数应用的封装难题,预计随着进一步的发展,BGA和FlipChip技术将成为  相似文献   

12.
BGA技术与质量控制   总被引:3,自引:1,他引:2  
球栅阵列封装(BGA)是现代组装技术的一个新概念,它的出现促进了表面安装技术(SMT)与表面安装元器件(SMD)的发展和革新,并将成为高密度,高性能,多功能及高I/O引脚数封装的最佳选择,介绍了BGA的概念,发展现状,应用情况以及一些生产中应用的检测方法等,并讨论了BGA的返修工艺。  相似文献   

13.
BGA技术与质量控制   总被引:1,自引:0,他引:1  
鲜飞 《电子与封装》2003,3(5):17-20,12
BGA是现代组装技术的新概念,它的出现促进SMT(表面贴装技术)与SMD(表面贴装器件)的发展和革新,并将成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。本文简要介绍了BGA的概念、发展现状、应用情况及一些生产中应用的检测方法等,并讨论了BGA的返修工艺。  相似文献   

14.
BGA技术与质量控制   总被引:1,自引:0,他引:1  
BGA(BallGridArray球栅阵列封装 )是现代组装技术的新概念 ,它的出现促进SMT(表面贴装技术 )与SMD(表面贴装元器件 )的发展和革新 ,并将成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。简要介绍了BGA的概念、发展现状、应用情况以及一些生产中应用的检测方法等 ,并讨论了BGA的返修工艺  相似文献   

15.
鲜飞 《电子与封装》2004,4(3):28-32
BGA是现代组装技术的新概念,它的出现促进SMT(表面贴装技术)与SMD(表面贴装元器件)的发展和革新,并将成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。本文简要介绍了BGA的概念、发展现状、应用情况以及一些生产中应用的检测方法等,并讨论了BGA的返修工艺。  相似文献   

16.
BGA/MCM进入现代组装技术的主流   总被引:1,自引:0,他引:1  
李民  冯志刚 《电子工艺技术》1997,18(5):179-181,184
文中分别介绍了BGA与MCM的概念,分类,发展现状,应用情况及发展趋势等。BGA与MCM是现代组装技术的两个新概念,是SMT(表面贴装技术)与SMD(表面贴装元器件)的发展和革新,从其产生到现在,发展不过几年的时间。电子界的权威士对BGA的发展很乐观,他们认为BGA将成为高密度、高性能、多功能及高I/O引线射封装的最佳选择。而MCM将更多地应用BGA,逐渐降低成本,减小尺寸和重量,进一步提高性能,  相似文献   

17.
高密度封装技术的发展   总被引:14,自引:0,他引:14  
摘要:重点介绍了BGA与CSP高密度封装技术的发展现状及趋势。BGA与CSP是现代组装技术的两个新概念,它们的出现促进了表面贴装技术(SMT)与表面贴装元器件(SMD)的发展和革新,并将成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。  相似文献   

18.
鲜飞 《中国集成电路》2008,17(12):52-57
BGA是现代组装技术的新概念,它的出现促进了SMT(表面贴装技术)与SMD(表面贴装元器件)的发展和革新,并将成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。本文将结合实际工作中的一些体会和经验,就BGA焊点的接受标准、缺陷表现及可靠性等问题展开论述,特别对有争议的一种缺陷空洞进行较为详细透彻的分析,并提出一些改善BGA焊点质量的工艺改进的建议。  相似文献   

19.
高密度封装技术的发展   总被引:1,自引:0,他引:1  
鲜飞 《微电子技术》2003,31(4):14-15,18
本文简要介绍了BGA与CSP的概念、发展现状、应用情况及发展趋势等。BGA/CSP是现代组装技术的两个新概念,它们的出现促进SMT(表面贴装技术)与SMD(表面贴装元器件)的发展和革新,并将成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。  相似文献   

20.
郑大安 《电子工艺技术》2012,(6):344-346,368
针对柔性基板易于弯曲、卷曲和扭转等特点影响BGA组装的问题,通过对柔性基板上BGA组装的工艺技术及可靠性保障技术等研究,确定了局部增厚提高可靠性,通过丝印模板和托板技术的应用,解决组装的平整性,实现了柔性基板上BGA器件组装技术。  相似文献   

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