多采样策略ASIC的设计与实现

针对储存测试系统微型化的瓶颈问题,设计了具有多采样策略的ASIC(application specific inte-grated circuit)。该芯片可以根据被测信号的变化规律在一次测试过程中设置多种采样频率,可以有效利用系统有限的储存空间,减少储存芯片的数量。多种采样频率的转换通过触发信号自动完成。采用此ASIC的测试系统不仅在体积微型化方面提供了有效的途径,还提高了ASIC的灵活性,使其具有更加广泛的应用空间。芯片进行了测试和验证,能够达到设计要求,可以进行实际应用。基于此ASIC的存储测试系统比现有存储测试系统体积减小40%～60%。     

基于LabVIEW的USB设备无线测试系统设计

针对传统有线USB设备测试系统存在布线、单目标、通用性差等缺陷,设计一套基于LabVIEW的USB设备无线测试系统;系统以LabVIEW为软件开发平台,进行虚拟仪器前面板设计与后台程序的编写;利用无线数据收发模块及其余硬件设备,搭建上位机与设备间无线数据通讯的桥梁;以宏晶STC12C5A60S2单片机为核心控制器,通过引入USB总线接口芯片CH375扩展了USBHOST功能,从而实现上位机和USB设备间数据的无线采集与传输;本系统主要应用于对USB设备的开发调试和测试过程。     

基于LabVIEW的机床振动信号的分析系统

LabVIEW是当今虚拟仪器开发最流行的一种图形化编程语言。结合机床振动信号的特点,以LabVIEW 8.5为开发平台,设计了机床振动信号的分析系统。系统由硬件和测试分析软件两大部分组成。软件作为虚拟仪器的核心,由控制底层硬件管理模块与分析功能模块组成,完成虚拟仪器特定的逻辑分析处理过程。信号经过LabVIEW处理后实现了频域、时域分析、相位分析、谱分析、相关性分析等多种功能。相对传统测试方法,本测试系统的灵活性显著增加,测试费用、能耗大大降低。实践证明本系统的测试效果良好。     

业界

中国高性能通信芯片设计与制造实现本土化 本刊记者 李丽娜 日前,华为技术有限公司和上海华虹NEC电子有限公司合作开发、南通富士通微电子有限公司封装测试的通信交换接入设备专用ASIC芯片研制成功,首次在国内完成全部商用化芯片的自主设计、自主加工制造、测试、封装,这也是采用全ASIC设计流程、TOP-DOWN     

基于LabVIEW的数据库管理系统

在测试测量中,基于LabVIEW软件的开发平台下,对于测试分析后数据的管理,可以采用文本文件管理或者利用数据库管理的方式实现,侧重介绍了利用LabVIEW数据库链接工具包对Access数据库进行开发的实例,该系统操作方便,功能完善。     

华虹NEC、华为、南通富士通联合打造国产ASIC 通信芯片首次全部本土化

11月15日,华为技术有限公司和上海华虹NEC电子有限公司合作开发了,南通富士通微电子有银公司封装测试的通信交换接入设备专用ASIC芯片——SD517 v1.1正式发布,首次全部在国内完成商用化芯片的自主设计、自主加工制造、测试、封装,     

LabVIEW在测试系统和通信中的应用

LabVIEW是实验室虚拟仪器集成环境，使用它可以将数据采集分析，仪器控制硬件以及PC设备整合集成，来建立完全符合自己特殊需求的虚拟仪控系统。本文结合实例，主要介绍了LabVIEW在测试系统和通信中的应用。     

ARM和ZigBee的智能家居监控网络设计

提出了一种智能家居监控网络系统,该系统以ARM微处理器S3C2440为核心,采用浏览器/服务器和客户端/服务器模式,对外通过Internet局域网和无线局域网接入公共网络,在家庭内部通过基于德州仪器C2530无线收发芯片的ZigBee无线网络将家用电器与其他监控设备连接在一起组成无线家庭网络;通过Windows客户端或Web浏览器可以对家庭内部或家用电器进行状态查询和控制,在户内可以使用手持设备,基于Android系统客户端对家用电器进行控制和管理;实际测试结果表明,系统组网方便快捷、运行稳定可靠,能够达到智能家居系统的一般应用要求。     

基于LabVIEW的虚拟逻辑分析仪

论述了NI公司虚拟仪器软件开发平台LabVIEW的特点，介绍了非NI公司的设备与LabVIEW的连接方法，详细讨论了组建和设计虚拟逻辑分析仪的方法，最后给出了虚拟逻辑分析仪测试实验结果。     

基于LabVIEW的某型歼击机驾驶杆力标定系统设计

本文采用PC机和多功能卡作为自动测试系统的核心控制设备,其他各种传感器、调理电路组成测试系统从属设备.系统基于LabVIEW平台开发,利用最小二乘法、线形插值法完成力与位移信号数据的标定.同时,通过LabVIEW SQL Toolkit完成数据库与LabVIEW监测系统的连接,并采用数值显示和测试曲线显示相结合的方式,该系统扩展性强,可在此基础上实现信号的实时、事后处理或在线监测等功能.     

Quickturn硬件仿真工具

当今复杂的ASIC设计需要与系统的完善测试，否则所设计的ASIC在板测试的周期相当长（必须等ASIC样片得到后），而要改变这种设计方法是非常困难的，以致许多设计者采用了一些变通方法：如用分立元件在面包板上实现此ASIC芯片的功能，并与目标系统相联，以便进行整系统实时测试。但这种方法很难做到与ASIC相近的时序特性，并耗时，耽误时间，甚至用FPGA来实现ASIC的原型也会出现不可接受的延时。从而耽误推向市场的时间，失去占有市场的份额。位于美国加州硅谷的Quickt。DesignSystems，Inc．公司是世界著名的研制开发和销售服…     

基于FPGA的PCI接口在高速绘图机上的应用

介绍了一种带FPGA的PCI接口的应用及设计方法。叙述了Quick PCI系列中的32位Target接口芯片QLS030的原理及结构，分析了目标写时序，提出了基于QLS030的高速绘图机上PCI接口卡的设计方案。本设计将PCI接口和PCI用户逻辑集成在一片芯片里，可以对整个逻辑进行仿真测试，缩短了开发周期，提高了系统的集成度和性能。     

基于FPGA的多通道ARINC429总线测试系统

ARINC429是一种可靠性高、抗干扰能力强的航空通信总线,在航空工业领域得到了非常广泛的应用。提出了一种基于FPGA以及总线接口芯片的系统应用方案,设计了一款多通道、用于ARINC429总线接口的测试系统,意在实现具备ARINC429总线设备的自动化测试并提高测试效率。着重阐述了系统的架构设计、FPGA的逻辑设计、总线接口芯片的硬件设计以及时序的分析与设计,最后对接口芯片的时序、ARINC429总线的信号质量、系统功能进行了验证与测试。经测试,系统进行多通道收发时数据可靠,在不同速率下通信稳定。     

用FPGA实现仪表用DDS信号源的ASIC设计

ASIC可以采用全定制和半定制的方法加以实现,采用FPGA来进行ASIC的可测试设计,可以很大程度上节约ASIC设计的成本.本文介绍了一种基于FPGA实现的DDS信号源的ASIC的设计方案,它可以灵活地输出任意波形,并可以较方便地改变波形的频率和相位.该方案可以嵌入到采用FPGA芯片实现的仪器仪表中,具有结构简单、功能强大、性价比高的特点,稍加改动可适用于许多仪器仪表系统中,具有很好的可移植性.     

批产卫星自动化测试系统研究与实现

为了解决批量化卫星生产数量多、周期短、人员短缺等问题，提出了一种新型卫星自动化测试系统。系统的硬件架构由综合测试服务器、遥控遥测地检设备、自动化测试终端等组成。软件核心架构基于TestStand和LabVIEW联合开发，LabVIEW编辑的代码模块实现与遥控遥测地检设备、服务器数据库等创建信息通道的功能；TestStand遵循测试细则的操作流程开展自动化序列的编辑工作，实现了遥控指令发送、遥测数据判读、过程监控、测试报告生成、多星并行测试等流程的高度自动化。该架构测试序列编辑灵活性高、通用性强，可以满足多种卫星自动化测试工况的需求，目前已经成功应用在吉林一号高分03系列卫星的批量化生产与测试的流程中，在大幅度提高测试效率的同时，节省了大量人力。     

NI发布LabVIEW 8．5版本，助您自在享受多核时代——图形化软件平台引入全新状态图设计模块，提升FPGA开发和工业测量性能

2007年8月，NI正式推出专用于测试、控制和嵌入式系统开发的LabVIEW图形化系统设计平台的最新版本——LabVIEW8．5。基于NI近十年来在多线程技术上的投资，LabVIEW8．5凭借其本质上的并行数据流特性，简化了多核以及FPGA应用的开发。随着处理器厂商通过并行多核构架获得性能上的提升，运行在这些新处理器上的LabVIEW8．5可以提供更高的测试吞吐量、更有效的处理器密集型（processor-intensive）的分析、以及运行在指定处理器核上的、更可靠的实时系统。[第一段]     

ASIC对测试技术的挑战

本文介绍和分析了当今ASIC发展引起的各种测试难题及其解决办法，包括可测性设计，测试码生成及ASIC测试系统。强调了ASIC的CAT和CAD相结合的发展方针。     

基于MCU和FPGA的Profibus DP主站系统设计与实现

当前Profibus主站系统开发主要基于国外的ASIC或嵌入式模块,可选择余地小且易受到限制,本文针对核电厂DCS提出了一种基于MCU和FPGA的Profibus DP主站系统设计方案,采用MCU和自主代码实现Profibus DP协议栈处理器,增加FPGA芯片辅助MCU实现底层高速串行通信.经过国产MCU和国产FPGA芯片的试验验证,基于该方案实现的Profi-bus DP主站系统可以稳定可靠的与从站设备连接,满足核电厂的工程应用需求.     

SoC设计中嵌入存储器对ATPG的影响

在ASIC设计中，越来越多地采用了So（systems-on0a-chip）方法，同时也因为采用各种IP核和嵌入存储器，给芯片的设计和测试带来了复杂性，特别是在ATPG中这些单元对故障覆盖率有较大的影响，现在已经有一些测试嵌入存储器本身的方法，但这些方法一般不考虑嵌入存储器对周围逻辑可测性的影响，在分析了嵌入存储器对ATPG的影响后，提出了消除这些影响的RTL级的DFT方法，这种方法得到了实验的检验。     

LabVIEW在芯片测试平台中的应用

为了减少芯片测试时间,在LabVIEW环境下,构建了由Agilent34970A、Agilent34401A和测试板作为硬件平台下的测试系统。在该平台中,系统能通过USB-RS232串口改变测试板的测试条件,也可以通过GPIB-USB串口把采集到的数据送往测试平台。实践证明,应用该平台在较大程度上,缩短开发芯片的周期,提高了工程师进行芯片开发的工作效率。