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相似文献
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1.
通过射线透照对比试验,验证了采用Se75射线源对核电厂薄壁管道焊缝进行射线检测的像质计灵敏度,比较了Se75和Ir192射线源照相的特性,以及不同射线源在满足RCC-M《压水堆核岛机械设备设计和建造规则》规范时射线透照工艺参数下的照相灵敏度;提出了Se75射线照相适用的厚度范围,验证了Se75射线源在满足RCC-M规范的射线透照工艺参数下与不同种类胶片和增感屏组合系统的照相灵敏度,推荐了Se75射线源检测适用的胶片种类。  相似文献   

2.
用^75Seγ射线透照小管径对接焊接接头   总被引:1,自引:0,他引:1  
林书生  徐生东 《无损探伤》2008,32(1):34-35,39
对小管径管道的射线探伤采用了^75Seγ射线,^75Se放射源能量较低符合射线探伤的工艺要求而且^75Se射线在小径管射线透照中具有较高的灵敏度和较好的宽容度,使小管径管道的透照时间缩短,提高了工作效率;而且降低了散射线的影响,降低了射线底片的灰雾度,提高了底片的成像质量,使底片的对比度、灵敏度和清晰度符合标准要求,可获得理想的射线底片质量,有效地检出焊缝内部缺陷。  相似文献   

3.
介绍了计算机射线照相技术(CR)和增感屏技术的原理。采用9 MeV直线加速器X射线源、iCR3600+系统和CR UR-1型IP板等,试验了透照不同厚度钢板时,增感屏对IP板成像的增感效果。得到了透照不同厚度钢板时灵敏度最高的增感屏厚度,以为工程应用提供参考。  相似文献   

4.
为了节约能源,提高经济效益,锅炉选型大多为超临界机组。为了保证质量,通常对电站锅炉受热面焊口进行一定比例的无损检测。特别是对于超临界锅炉,更作了明确的规定:Ⅰ类焊接接头100%无损检测,其中不少于50%的射线检测[1]。1射线检测难点超临界锅炉结构复杂,合金成分高,管小壁厚,管间距离小,许多部位对接焊缝无法进行X射线检测,受热面小径管对接焊缝检测存在透照厚度差过大的问题。某电厂超临界锅炉受热面管子最大探伤厚度与管子双壁厚度之比为159%~320%,有效透照厚度与双壁厚度之比为97%~178%,对射线检测非常不利,且由于受热面管子焊接结构复杂,散射严重,底片的散射率高,因而灰雾度高。2射线检测工艺由射线与物质的相互作用原理可知,射线能量提高能使射线检测宽容度增加,散射率降低。但能量太高会使射线照相的对比度下降,颗粒度增大,不清晰度增加,导致射线照相的灵敏度下降。为此拟选用75Se源兼顾这两方面的目标。75Se源平均能量0.226MeV,半衰期120d。检测时应考虑使用活度较大的源。选用Agfa D7胶片;前后屏都选用0.2mm金属增感屏,同时背面放置一块3mm厚铅板;Ⅰ型像质剂;双壁双影一次椭圆成像,椭圆开口度...  相似文献   

5.
第二讲射线照相检验基本技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
郑世才 《无损检测》2000,22(2):84-88
1 透照布置与有效透照区射线照相的基本透照布置如图 2 - 1所示。考虑透照布置的基本原则是使射线照相能更有效地对缺陷进行检验。在具体进行透照布置时主要应考虑 1射线源、工件和胶片的相对位置。应使透照厚度尽可能小 ,缺陷更靠近胶片。2射线中心束的方向。尽可(a)(b)图 2 - 1 射线照相的基本透照布置能使射线中心束的方向沿着危害性缺陷延伸方向。3有效透照区 ( L3)。中心射线束在一般情况下应指向有效透照区的中心。有效透照区主要是控制一次透照中透照厚度变化的范围 ,这个变化范围必须限制在一定的限度之内 ,以使有效透照区在射线…  相似文献   

6.
何中宝 《无损探伤》2003,27(5):40-41
通过对^75Se射源特性的分析和工艺试验,证明^75Se射源在小径管射线透照中具有较高的灵敏度和较好的宽容度,并探讨其透照可行性和应用前景。  相似文献   

7.
刘朴宪 《无损检测》1995,17(5):135-136
本文提出利用X射线管靶固有的偏斜效应,透照不等板厚的对接环焊缝,采用焦点中心移向厚板的照相工艺,并适当提高管电压,选择较厚铅箔增感屏与较高γ值的射线胶片组合,以增大厚度宽容度而不降低照相灵敏度的特殊方法。  相似文献   

8.
讨论了提高透照宽容度的数字化射线照相技术。该技术可用于有厚度差的工件进行射线照相检测,在满足像质指数的前提下,提高透照厚度宽容度,提高检测速度,确保照相质量。  相似文献   

9.
张子良 《无损检测》2000,22(9):415-416
1 问题的提出在火力发电站的施工中 ,往往有许多高空管道焊接接头需要检验 ,而检验仪器摆放得正确与否 ,对射线照相所需的稳定性、焦距及角度等至关重要 ,直接影响到检测结果的质量。电站锅炉 ,如洛河 期工程水冷壁的规格为45mm× 6mm,其透照厚度按 GB/T 1 2 60 5- 90标准计算 ,得TA =0 .8( D - T) . T T≈ 1 8mm  众所周知 ,对检测厚度 <50 mm的工件 ,X射线照相法比γ射线照相法灵敏度、清晰度都要高 ,而且材料越薄 ,两种方法所得象质差异越大。对于192 Irγ源 ,其适合的透照厚度 ( AB级 )为 30 mm≤ T≤95mm。因此对上述实…  相似文献   

10.
陈挺 《无损检测》1994,16(10):284-286,298
由于~(192)Ir源具有使用轻便、透照厚度范围宽、工效高和设备损耗低等优点,而被广泛用于锅炉压力容器及金属构件焊缝的探伤。但是,由于~(192)Ir γ射线线质较X射线硬及能谱特征关系,各国射线探伤标准都对其使用条件作出了诸如最小透照厚度或象质指标附加要求的限制,见表1。又由射线透照理论得知,透照象质还相关于感光材料的特性及透照方式等因素。因此,在射线探伤中,有必要根据实际条件确定符合标准要求的~(192)Ir源照相工艺参数。  相似文献   

11.
第三讲典型工件的射线照相技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
郑世才 《无损检测》2000,22(3):125-130
1 变截面工件透照技术变截面工件射线照相常采用的技术主要有双(多 )胶片技术、适当提高透照电压 ( X射线 )和补偿方法等。双胶片技术是在同一暗盒中放置两张感光度不同或相同的胶片同时透照 ,感光度不同的胶片的选取应按胶片特性曲线进行。适当提高透照电压进行透照时 ,技术上需要处理的问题是如何确定透照电压 ,或者说 ,对截面厚度变化的工件如何确定透照厚度。美国 ASTM标准要求底片黑度同时满足下列要求 :D =( D0 - 0 .1 5D0 )~ ( D0 0 .30 D0 )即 D =0 .85D0 ~ 1 .3D0且对 X射线1 .8≤ D≤ 4.0或对γ射线2 .0≤ D≤ 4.0式…  相似文献   

12.
小直径管对焊接缝射线照相技术的几个问题   总被引:1,自引:0,他引:1  
对小直径管对接焊缝射线照相的透照厚度,透照次数,透照电压,有效透照区等问题进行了简要的讨论。  相似文献   

13.
1 双壁双影照相术的关键对于外径≤89mm(即3.5in.)钢管对接环缝射线照相时常常采用双壁双影的照相方法.众所周知,双壁双影照相时管子各部分的实际透照厚度变化幅度特别大.中心部分的透照厚度是个极小值,等于管子壁厚T的两倍(如果焊缝的余高不等于零,则还要加计余高);射线与管子内壁相切方向上的透照厚度最大;再往外,透照厚度迅速减小到零.透照厚度的大幅度变化必然导致焊缝影象黑度的大幅度变化.对管子环缝的照相胶片,首先要问黑度适宜的有效评定范围到底有多大?在大多数情况下,认为相隔90°的两次双壁双影照相即能实行对整圈焊缝的检验,换句话说,每次照相的有效评定范围应该不少于1/2周.  相似文献   

14.
小直径管对接焊缝射线照相技术的几个问题   总被引:1,自引:0,他引:1  
对小直径管对接焊缝射线照相的透照厚度、透照次数、透照电压、有效透照区等问题进行了简要的讨论。  相似文献   

15.
李衍 《无损检测》2003,25(6):313-316,319
介绍新一代同位素^75Se源的结构、特点、物理化学性能以及最新应用领域。较^192Ir和^169Ybγ射线源,^75Se半衰期长,对操作者安全,透照5~40mm厚钢时影像质量高,非常适用于管道爬行器和野外作业,是一种用途广泛的新型γ射线源。  相似文献   

16.
李衍 《无损探伤》2003,27(4):1-4,12
介绍在透照5~40mm钢厚度时用新一代^75Se源优于^192Ir的各种特性及其在管道检测等方面的最新应用。  相似文献   

17.
《无损检测》2002,24(10):454-459
引言 用X射线或γ射线作透照检验的工件,其缺陷可检验性取决于射线照相技术细节.由于射线照相底片的质量不能通过使用像质计(IQI)完全保证,本国际标准解释了获得良好射线照相质量的基本规则和技术程序.  相似文献   

18.
小直径管对接焊缝射线照相检验,是一个变截面透照问题.确定透照参数的核心,是在一次透照厚度范围内正确地选取确定透照电压的厚度.本文从处理变截面透照参数的一般考虑出发,讨论小直径管对接焊缝的透照厚度,给出了简单的确定透照厚度的计算式,解决了小直径管对接焊缝确定透照参数的核心问题.  相似文献   

19.
双片四屏射线照相是双片双屏的改进。本文通过试验,分析了双片四屏射线照相底片的黑度、灵敏度、清晰度随透照规范的变化情况。  相似文献   

20.
钱华 《无损探伤》2007,31(4):15-17
通过大量工艺试验,较系统地分析了影响钛合金压力容器焊缝X射线照相灵敏度的各个因素。研究结果表明:在诸多因素中,底片黑度、底片对比度、影像不清晰度、颗粒度是影响X射线照相灵敏度的主要因素。在优化探伤工艺后所透照的X射线底片,其灵敏度和清晰度已完全达到了X射线标准。  相似文献   

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