纯金杂质元素分析方法研究进展

通过查阅目前国内公开发表的相关期刊、标准方法,对纯金中杂质元素的分析方法作出了全面综述,包括样品预处理方法、试样溶解方法、杂质元素的分离富集方法以及不同仪器的测定方法等。引用文献61篇。最后,对目前纯金中杂质元素的分析情况进行了评述。     

铝电解过程对电解铝液的净化作用分析

本文综合分析了利用冰晶石溶液对氧化铝杂质进行溶解、清除电解铝液当中氧化铝杂质、电磁分离方法对铝液中氧化铝杂质进行清除以及当前利用铝电解对电解铝液进行净化中存在的问题,希望能够对相关行业的发展起到促进作用。     

氯化分离——ICP—MS法测定高纯锡中的杂质元素Pb

文章研究了高纯锡分离基体富集杂质元素的方法,及采用ICP—MS测定杂质元素Pb的方法探索。通过氯化分离基体锡和以T1为内标,有效地克服了基体效应干扰。方法的检测限为0．05ng／mL;精密度为0．8％～1．1％;回收率在96％～104％范围之间。本法可满足99．999％以上高纯锡中杂质元素Pb测定的要求。     

非稀土元素在稀土生产中的分离方法

论述了在稀土生产过程中与稀土伴生的一些杂质元素的分离方法，并结合本企业的生产实际情况介绍了几种新的分离除杂方法。     

传统工艺生产氧化钽(铌)除杂技术特点及研究进展

分析了钽铌湿法冶炼传统工艺各工序影响杂质分离的主要因素,介绍了降低产品杂质含量的方法,综述了氧化钽(铌)生产过程除杂技术的研究进展。     

火焰原子吸收光谱法测定银粉中的铋

提出了火焰原子吸收光谱法测定银产品中杂质铋的一种新方法。该方法利用氢氧化铁富集杂质铋。使铋与大量银分离后用原子吸收光谱法进行测定。所拟方法快速、简便、准确。可满足银产品生产的快速监控分析。     

微柱分离-ICP-MS测定高纯氧化铈中14个稀土杂质

研究了微柱分离-ICP-MS法测定高纯CeO₂中Gd、Tb含量的基体分离条件。建立了高纯CeO₂中分离Ce后测定Gd、Tb以及内标补偿法直接测定其它12种稀土杂质的ICP-MS分析方法。方法测定下限为0.2μg/g～0.5μg/g,加标回收率为93.5%～107.5%,RSD为2.4%～6.0%,精密度好。本方法可满足快速测定99.999%氧化铈中14个稀土杂质的要求。     

金属锂中痕量杂质铜、镍、锰、锌、镉、钴、铅的螯合树脂分离—原子吸收测定

报道了一个金属锂中痕量杂质铜、镍、锰、锌、镉、钴、铅的分析方法。本法用501螯合树脂分离主体和杂质,而后用原子吸收光谱法测定。方法回收率为95～100％。相对标准偏差对铅为4.3％,对其它六元素为1.1～2.2％。方法简便、准确、灵敏。     

真空浓缩-光谱法在超高纯汞内25个痕量杂质分析中的应用研究

本文采用真空蒸馏分离基体浓缩杂质后进行发射光谱测定。设计了小巧、简便的真空分离设备。并且用石墨炉原子吸收光谱对回收率进行了直接验证。阐述了提高真空浓缩杂质回收率的途径,并试图从理论上给予论证和解决。     

粗Na2WO4溶液的净化分离研究进展

对粗钨酸钠溶液中的几种常见而又典型的杂质，如砷、磷、硅、钼等的净化分离研究成果及几种常用的分离净化方法作了较详细的回顾，对本课题未来的研究方向进行了讨论。     

钼酸铵生产中杂质的分离方法

简要地介绍了钼酸铵生产中有害杂质的各种分离方达及应用情况，并就各种方法的利弊作了对比说明。     

高纯氧化铕中14个稀土杂质的化学光谱测定——P507-HCl体系萃取色层分离

本文研究了用P507为固定相,硅球作载体,盐酸为流动相的萃取色层法从高纯氧化铕中分离14个稀土杂质,把富集的稀土杂质用PMBP萃取,10％HCl反萃取,用发射光谱法进行测定。其分离周期为6小时,平均回收率在83.75、113.00％,相对标准偏差在3.70～15.70％。方法较简便、快速。     

碳及其他杂质对氰化提金过程的影响

含碳、砷等杂质的致密金矿石,一般采用浮选-氰化或全泥氰化分离方法.而矿石中碳、砷、铁等杂质,在选别时,尤其氰化时对过程具有复杂作用,对提金技术经济效果影响很大.深入研究这些杂质对提金影响机理,是兴利除弊,制定合理的提金工艺方法所必须的.     

氧化铝生产中细小杂质的控制方法研究

随着我国工业快速发展,作为工业原材料之一的氧化铝的需求也在不断增加,但是当前氧化铝生产过程中会存在细小的杂质,影响氧化铝生产质量和等级,为此提出氧化铝生产中细小杂质的控制方法研究。研究氧化铝生产中细小杂质的控制方法,通过对氧化铝进行析出沉淀、电解分离和活性炭吸附三个步骤,控制氧化铝生产过程中产生的细小杂质。从而提高氧化铝制品的质量、性能、美观和等级,避免使用过程中发生安全事故。通过实验论证分析,对比本文提出的氧化铝生产中细小杂质的控制方法与传统控制方法,控制氧化铝生产中细小杂质存在率,从而证明本文提出的氧化铝生产中细小杂质的控制方法有效。     

高纯稀土中非稀土杂质分析方法研究——APDC/AC 分离富集-ICP光谱法

本文采用吡咯啶二硫代氨基甲酸铵(APDC)与活性炭(AC)分离富集高纯稀土氧化物中的金属杂质,以 ICP 发射光谱法进行测定,实验了 APDC 与金属离子络合的酸度、活性炭用量、解脱方法以及基体对测定的影响等,方法比较简单、灵敏,为高纯稀土中非稀土杂质的同时测定提供了一个较好的分析方法。     

电感耦合等离子体质谱法分析高纯金属银中痕量杂质元素

高纯金属纯度分析时为了克服基体效应的影响,常采用分离基体的方法对其中痕量杂质元素进行分析测定,不仅前处理过程较为复杂,且易造成样品污染。实验以硝酸(1+1)溶解样品,在利用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)半定量法确定高纯银中杂质种类的基础上,通过选择适当的同位素克服了质谱干扰,采用标准加入法绘制校准曲线,在不分离基体的前提下消除了银基体对痕量杂质元素测定的基体效应影响,最终实现了ICP-MS对高纯金属银中铅、砷、铜、镍、锑、锡、钯、铋8种痕量金属杂质的直接定量测定。同时在采用ICP-MS法对高纯金属银中8种痕量金属杂质元素测定后,可根据国标方法GB/T 21198.5—2007中差减法最终计算得到银的纯度。方法的检出限为0.09~1.1 μg/L,将实验方法应用于高纯金属银的实际样品分析,加标回收率为96%~106%,相对标准偏差(RSD,n=6)不大于5.0%。     

氢氟酸分离-EDTA容量法测定钕铁硼废料中稀土总量

试验用烘烧的手段去除钕铁硼废料中水分或油分的方法,使基体金属转化为有脆性的氧化物,便于研磨混合,从而解决了分析样品的均匀性问题.研究氢氟酸分离杂质、EDTA容量法测定稀土总量的方法,两次消除杂质离子干扰,提高了分析结果的准确度.样品分析结果的相对标准偏差为1.41%,方法重现性好.     

杂质离子对不同萃取体系下镍钴分离的影响研究

分别考察了微生物浸出液中主要杂质离子(Mg2+,Ca2+,Fe2+,Fe3+)对Cyanex272-P507协萃体系、Cyanex272萃取体系和P507萃取体系在低p H值条件下分离回收模拟微生物浸出液中低含量钴镍的影响。研究发现杂质离子对3种萃取体系的钴萃取率和钴镍分离系数均有较大影响,其中Fe3+的影响最大,而杂质离子对镍萃取率影响不大,其仍保持在较低水平。3个萃取体系中Cyanex272萃取体系是受杂质离子影响最严重的萃取体系,少量杂质离子的增加就会使其钴镍分离系数以及钴萃取率发生显著的下降,而Cyanex272-P507协萃体系受杂质离子影响次之,P507萃取体系受影响最小。在杂质离子浓度较低时,相对于其他两个体系,Cyanex272-P507协萃体系可以实现更低的杂质离子萃取率。运用Cyanex272-P507协萃体系萃取分离钴镍时,为尽量降低杂质离子对钴萃取率和钴镍分离系数的影响,钴镍料液中所含杂质离子Mg2+,Ca2+,Fe2+,Fe3+的最高含量分别是:90.0,21.0,52.0,8.8 mg·L-1。     

络合均相沉淀法制备钨酸中间试验中除杂质的研究

介绍了由钨精矿粉制取氧化钨(钨酸)的络合均相沉淀法,并确定了中间试验的最佳工艺条件和杂质的分离方法。     

高纯硫化镉中痕量杂质元素的测定

高纯硫化镉是我公司专有产品,查阅有关资料及结合公司实际情况通过试验确立本方法:利用在中性介质中,强酸型阳离子交换树脂能吸附试料中大量的镉离子和其它杂质,且大量的镉离子和其它杂质能分别被洗脱,已达到主体和杂质分离,进行光谱测定。本方法可测定:Mn、Mg、Ca、Fe、Pb、Cu、Zn、Co、Ni等9个杂质元素,方法检测极限为(0.1~0.5)×10-6。