重叠峰解卷积在能谱面分布中的新应用

为研究重叠峰解卷积技术对能谱面分布分析结果准确性的影响,以具有重叠峰的Ti-Ba材料为研究对象,对采用重叠峰解卷积技术前后的元素能谱面分布结果进行比较。实验结果表明:未采用谱峰解卷积时,Ti元素和Ba元素的能谱面分布基本相同,但元素定量分析结果显示Ti和Ba元素并非分布在相同的区域,即未采用谱峰解卷积的Ti-Ba元素能谱面分布分析有误;而采用谱峰解卷积技术后,可以清晰地观察Ti元素和Ba元素分布在不同的区域。由此可知,对于具有重叠峰的元素能谱面分布(重叠峰元素未形成化合物),可采用重叠峰解卷积来解决元素的谱峰重叠问题。     

频谱分析的校正方法

本文提出了一种对幅值进行校正的新方法，以解决离散频谱当谱峰谱线没有对正峰顶时所带来的误差。该方法首次利用谱峰主瓣内谱线的重心求出峰顶的坐标，可得到准确频率、幅值和相位。其校正业可达细化１０００倍左右的效果。     

ICP光谱法测定铂饰品中金、铝、铬的谱线选择研究

采用ICP差减法测试铂饰品的过程中,由于基体或杂质元素的部分谱线存在相互干扰,因此会对测试结果产生一定影响。通过测试发现金、铝和铬元素的部分标准推荐谱线不适用于ICP差减法。通过实验证实,金267.595nm,铝396.152nm,铬425.435nm和铬427.481nm不存在铂元素及铁元素的干扰。以上四条谱线元素浓度和光谱强度均呈现良好的线性关系,曲线相关系数大于0.999,测试结果的相对标准偏差(n=11)小于1%,回收率为98.2～100.2%。谱线测试结果准确,灵敏度高,适合作为差减法测定铂饰品含量的分析谱线。     

AEAPS用于电子(束)管闭管无损表面分析

俄歇电子出现电势谱(AEAPS)具有设备简单,谱峰分辩率高,谱线易辩认,能不使用任何能量分析器即能作材料表面成份分析等优点,本文报导了一种利用电子管内电极构成AEAPS谱技术,以检测管内电极表面成份。试验表明这种无损闭管表面分析能监视和跟踪电子管寿命过程中的物理过程,提供有益的信息。本文报导的是利用四极式电子管组成的AEAPS分析仪及其测试结果,对阳极表面成份分析结果表明,铜基底的阳极表面存在有钡、碳和氧等元素。其中钡的M、N系列及O系列的谱峰均清晰可见。     

俄歇电子谱术(续)

5　俄歇电子谱术的应用5 .1　定性分析[8]定性分析的目的是根据测得谱的位置和形状以识别元素种类。常用的方法是根据测得的峰的能量(在微分谱中以负峰为准 )与标准的《手册》[8,16 ] 进行对比。以下以微分谱为例进行说明。标准图谱手册提供各元素的主要俄歇电子能量图和标准俄歇谱图 ,给出各元素的俄歇峰的出峰位置、形状和相对强度。在定性分析中 ,同时采用上述两种图谱 ,将使分析工作变得快捷。定性分析的步骤[8] :(1)首选一个或数个最强峰 ,利用主要俄歇电子能量图 ,确认数个可能的元素。然后利用标准俄歇图谱进一步对这几种可能元素进…     

单晶镍基合金中γ,γ′两相的晶格常数及影响因素

通过对单晶镍基合金的组织形貌观察和XRD谱线分析,研究了元素铼对单晶合金晶格常数及错配度的影响。结果表明:2%Re镍基单晶合金经完全热处理后,其组织结构是由尺寸约为350～400nm的立方γ′相以共格方式嵌镶在γ基体相所组成;在γ,γ′两相镍基合金的XRD谱线中,衍射峰不对称的原因是由于γ,γ′两相衍射峰叠加所致。对不同合金在不同条件下XRD分离谱线的的分析表明,随元素Re含量增加,合金中γ,γ′两相在室温的晶格常数略有增大,而晶格错配度的绝对值减小。随温度提高,合金中γ,γ′两相的晶格常数及晶格错配度的绝对值增大,并进一步测算出合金中γ,γ′两相在不同温度区间的热膨胀系数。     

衬底对粉末试样能谱分析结果的影响

选择不同的衬底对粉末试样进行能谱分析，研究了衬底对粉末试样能谱分析结果的影响。结果表明：当衬底中的元素与试样中的元素存在特征X射线谱峰重叠现象时，面扫描谱图中元素的亮点分布异常，导致无法获得理想的能谱分析结果。列举了几种常用衬底及与其谱峰重叠的元素，有利于快速地选择合适的衬底，以获得理想的能谱分析结果。     

X射线能谱重叠峰的识别

提出一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法，应用该方法，成功地分析了Ti合金微区中能量差为20eV的Ｔi的Ｖ的重叠峰，实验表明，该方法简便，可靠，并可适用于Ｋ－Ｚn之间元素的分析。     

在三维CAD软件中建立空间几何元素模型的研究

在三维CAD软件中对空间几何元素建立模型是解决工程领域空间问题的基础,本文对各种空间几何元素提供了多种建立模型的方法.每种三维CAD软件对于建立空间平面、空间直线、空间曲线的模型都提供了简单方便的方法,但是建立空间曲面的模型则要比建立其它空间几何元素的模型更加复杂和困难.CAXA实体设计是国产的三维CAD软件,在该软件...     

ICP-AES法测定超高强度钢中Mn,Si,Al,Ti,Nb,La杂质元素

介绍了采用ICP-AES测定超高强度钢中Mn,Si,Al,Ti,Nb,La的方法.研究了超高强度钢中基体元素,常见元素对六种杂质元素分析谱线的光谱干扰情况;选择了合适的分析谱线;工作曲线线性良好;根据钢中共存元素的含量范围,进行了加入回收实验和精密度、准确度实验,测量结果满足分析要求.     

I-DEAS二次开发技术在电动汽车设计中的应用

为了在I-DEAS软件中实现电动汽车辅助设计功能,对I-DEAS二次开发技术进行专题研究.根据工程实际需要,以I-DEAS软件为前后处理平台,开发基于I-DEAS设计平台的电动汽车设计系统零件更改模块.运用该模块,进行了实例应用,初步完成电动汽车的整体布置.结果表明,以I-DEAS软件二次开发原理为基础,对该软件实现深层次的嵌入式开发,可以达到工程实际应用的目的.     

频谱分析中用于相位和频率校正的相位差校正法

提出了一种对连续时域信号分前后两段作傅里叶变换,利用其对应离散谱线的相位差校正出谱峰处的准确频率和相位的新校正方法——相位差校正法,通过窗谱函数的公式还可以校正其幅值,以解决离散频谱分析中由于谱峰谱线没有对正峰顶时所带来的较大误差。该方法原理简单,通用性好,运算速度快,校正精度高,可以在不知道窗谱函数表达式的情况下,直接用其相位差进行求解。仿真研究表明,对单频率成分的频率、相位、幅值进行校正,频率误差小于0.0002个频率分辨率,相位误差小于0.1 度,幅值误差小于0.02% 。     

直流电弧发射光谱法测定铌及铌合金中钽含量

采用直流电弧光谱仪对铌及铌合金中钽元素进行检测。通过试验确定满足分析条件的缓冲剂、样品与缓冲剂的配比及钽元素谱线并检测其精密度、准确度及检出限。结果表明,选择Li2CO3与碳粉1∶6混合作为缓冲剂,缓冲剂与样品比例为1∶2,钽元素的谱线为271.013 nm;加标回收率为94%~109%,测定值的相对标准偏差(测10次)均小于10%。     

ICP-AES同时测定饲料中钙、铜、铁、镁、锰、钾、钠、锌和磷的含量

介绍了应用ICP-AES同时测定饲料中钙、铜、铁、镁、锰、钾、钠、锌和磷的含量。将试料经过高温消化处理后,直接用电感耦合等离子体发射光谱仪测量每个元素的谱线强度,并与同一元素标准溶液的谱线强度比较定量。     

北京地区冬季气溶胶分级化学成分及来源分析

在北京城区进行冬季大气气溶胶采样,样品采用PIXE方法进行分析,得到大气气溶胶中20种元素的质量浓度。结果表明:元素Mg、Fe、Si这3种元素均呈粗粒模态单峰型分布,且峰值出现在2～4μm,表明它们来自土壤尘;S、Cl、K等3种元素谱分布呈细粒单峰型分布,峰值都出现在0.25～0.5μm范围内,表明这3种元素主要来自燃煤;Cu、Zn、As、Br、Pb等5种元素谱分布呈双峰型谱分布;Ni、Cu、Zn、As、Se、Br、Pb等元素的粗、细模态的富集因子都较大,尤其是细粒模态,表明这些元素更容易在细粒模态上富集,进一步说明这些元素主要来自人为污染源。因子分析结果表明:土壤尘、煤烟尘、工业源和汽车尾气排放源对北京冬季气溶胶有主要贡献。     

氧化锌薄膜的拉曼光谱研究

利用拉曼光谱结合X射线衍射分析对未掺杂和掺杂的ZnO薄膜，陶瓷薄膜进行了研究，ZnO薄膜及ZnO陶瓷薄膜均由sol-gel法制备，掺杂组份有Bi2O3,Sb2O3,MnO和Cr2O3等。结果表明，未掺杂的薄膜的ZnO主晶相均表现出显著的定向生长特征，其拉曼光谱特征谱峰为437cm^-1，谱峰强度随薄膜退火温度的提高略有增强，掺杂后ZnO的拉曼谱峰发生了红移，掺Bi2O3后ZnO的拉曼谱峰由347cm^-1移质移至434cm^-1，掺Sb2O3后ZnO的拉曼谱峰移至435cm^-1，而掺杂Bi2O3,Sb2O3,MnO和Cr2O3等组份的ZnO陶瓷薄膜的ZnO拉曼谱峰则移至434cm^-1，说明掺杂元素进入了ZnO晶格，引起了晶格的变化，ZnO薄膜性能不仅受次晶相组成的影响，而且受因掺杂元素进入而引起的ZnO晶格畸变的影响。     

X-射线荧光光谱仪熔片法测定硅酸盐中主量元素

用X-射线荧光光谱仪建立了熔片法测定硅酸盐中主量元素的测定方法。对硅酸盐的熔样方法、元素分析谱线的选择、背景校正及元素间干扰及仪器分析参数等因素进行了研究,综合确定了最佳试验条件。     

吉林电视台大洋非线编辑软件的功能及特点

介绍吉林电视台后期制作所用的非线编辑软件大洋D-EDIT。从系统架构、输入输出方式、编辑特点、特技以及字幕等方面介绍该软件的一些功能以及特点。     

第九讲 炭材料的原料

(接上期80页)(2)化学结构38 1).X线衍射法X衍射主要用于结晶结构解析,但是沥青类那样三维排列很不发达的物质仅能得到宽幅衍射线。邻接002谱带显现出来的r谱带被认为是由脂族物质产生的、由这个峰面积Ar与002谱带的峰面积A002,yen等人通过下式,求出芳碳率(fa)。fa=A002/(A002+Ar)     

ICP-OES法测定氧化铟锡粉末中微量元素

氧化铟锡(ITO)粉体中的微量杂质元素对其薄膜制品的透光率等光谱特性影响较大。用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)同时测定ITO粉体中Sn,Fe,Cu,Pb,Zn,Ca,Mg共7种微量元素。样品置于银坩埚中用氢氧化钠铺底和覆盖,高温碱法熔融,用热水和稀盐酸浸取并转移至溶液中;选择合适谱线消除了元素之间的谱线干扰、配制混合标准溶液时采用基体匹配法消除了基体干扰;对每种元素的精密度、检出线和加标回收率进行了研究,试验结果表明,每种元素的精密度均不大于1.2%,加标回收率在98~104%之间,样品测试结果与标准值一致。