CE标志已使用新指令架构

正2014年3月29日,欧洲委员会(EC)出版了8项重修的CE标志指令,这些指令开始使用新的参考码,并与768/2008/EU决议中有关CE标志的规则和职责相一致。其中,新的EMC指令由以前的2004/108/EC改为2014/30/EU,低电压指令(LVD)由以前的2006/95/EC改为2014/35/EU,防爆(ATEX)指令由94/9/EC改为2014/34/EU。新指令于2014年4月19日生效,欧盟成员国必须在2016年4月20日前修改相应的国家法规,并替换旧版指令。生产商的CE符合性声明(DoC)可在新指令生效后开始参考新的指令编码,至2016年4月20日,属于这些指令范围内的产品必须使用新的编码。指令的重修符合2008年实施的欧盟新立法架构(NLF),NLF具有以下特点:     

中国电子环保标准将出台 与欧洲环保指令接轨

作为《电子信息产品污染控制管理办法》重要支撑的电子信息产品污染控制行业标准即将出台。目前，三个主要的行业标准已经进入了最后的程序制定阶段。     

一个蓬勃发展的行业：玩具安全检测概述

本文介绍了欧洲标准对玩具安全性的一些要求,并结合实验室中相关的检测手段,评估了玩具的电气安全性,剖析了常见的问题并提出了相应的解决方法。     

微功耗、低电压监测器MIC2776

MIC2776是MICREL公司推出的一款低电压电源监测器，可用来监测μC或μP电源电压（或电池电压）。该器件在上电时，若电源电压正常，可输出上电复位信号。而在电源电压低于高定的阈值电压时，可输出低电压复位信号。另外，MIC2776还具有手动复位功能。文中介绍了MIC2776的管脚功能、内部结构及工作原理，并给出了典型应用电路图。     

欧盟ROHS和WEEE指令最新进展

简要回顾了欧盟ROHS和WEEE指令的主要内容，介绍了指令后续法规制定、转化、修订、有害物质检测方法研制等方面的最新进展情况。     

UL在华启动绿色标志应对欧盟RoHS指令要求

欧盟RoHS指令将于7月1日正式生效，6月13日上午，世界知名认证机构美国安全检测实验室公司（HL）在广州启动绿色标志：UL RoHS产品认证标志和UL危害物质管理体系认证标志，     

CE安全认证及其获取途径

CE是法语“CONFORMITE EUROPEENE”（欧洲合格证）的简称,是一种安全认证的标志。文中论述了“CE”标志和《技术协调与标准化新方法》指令之间的关系,给出了企业获得“CE”标志的具体步骤。     

新电磁兼容指令和低电压指令4月20日实施

基于欧盟新立法框架（NLF）的电磁兼容指令2014/30/EU及低电压指令2014/35/EU于2016年4月20日起实施,各成员国必须在4月19日前完成立法程序。旧电磁兼容指令2004/108/EC和旧低电压指令2006/95/EC的符合性声明（DoC）自4月20日起不再被接受。新电磁兼容指令涵盖新型投放于欧盟市场的产品,以及通过不同形式供应的产品,包括远程销售类产品,例如：家用电器、照明设备、信息技术设备、工科医（ISM）设备、马达等。     

雷达软件的安全性测试研究

安全性测试是雷达软件测试的重点和难点,针对当前雷达安全性测试所面临的主要问题,从软件安全性测试的需求分析、测试设计和测试环境搭建三个方面进行详细论述,给出了一种以失效模式影响分析表和安全性故障树分析为基础的雷达软件安全性测试设计实用方法,该方法经实际验证方便可执行。     

一种安全计算机板级测试系统的设计与实现

针对铁路安全计算机,根据板级测试的基本原则,结合计算机辅助测试技术,构建安全计算机板级测试平台,解决了电源可靠受控,测试激励信号控制的问题,根据主要的板级软件测试流程,设计并实现了综合板级测试系统。该系统已获得实际应用,实践证明该系统稳定可靠,可以实现对多类型板级测试的目的,并且有效检测出电路设计中的错误,大大提高了产品出厂的测试效率。     

锂离子电池充放电控制电路安全测试

依据GB4943—2001《信息技术设备的安全》中对电池的要求,选取了较为典型的可充电式锂离子电池进行详细介绍,分析了具体的锂离子电池充放电控制电路的安全测试方法,为锂离子电池的测试提供了参考。     

通信局房高低压配电系统安全节能配置研究

在全业务背景下,随着通信技术和通信领域迅速发展,数据业务也在快速发展,大量的软交换设备和数据设备在现网中应用,导致通信设备的集成度越来越高,单机架耗电量大幅上升,通信集中化给局房动力的可靠性、动力容量等带来严重挑战。本课题研究主要包含四部分内容,一是分析目前移动通信局房高低压配电系统存在的问题,二是通过分析研究解决目前动力电源设计存在的问题,提出了新的高低压配电系统模块化配置标准,三是对各种类型的高低压配电系统进行分析,四是根据实例,对新标准下的系统和常规系统的各项性能指标进行比较。     

用计算机测试系统及辅助方法测试高压大电流功率驱动集成电路

本文介绍了5406、5407、TC4423、TC4424、TC4425等驱动集成电路的电性能参数,说明了对这类能输出高电压或大电流集成电路的测试原理,给出了以小型微型计算机测试系统为主,加以其它辅助方法进行这类电路包括高电压和大电流的全参数测试的方案.     

Low Cost On-Line Testing Strategy for RF Circuits

This work proposes the use of a simple 1-bit digitizer as an analog block observer, in order to enable the implementation of on-line test strategies for RF analog circuits in the System-on-Chip environment. The main advantages of using a simple digitizer for RF circuits are related to the increased observability of the RF signal path and minimum RF signal degradation, as neither reconfiguration of the signal path nor variable load for the analog RF circuit are introduced. As an additional advantage, the same digitizer can be used to implement BIST strategies, if required. The feasibility of using a 1-bit digitizer for the test of analog signals has already been presented in the literature for low frequency linear analog systems. This paper discusses the implementation of an on-line test strategy for analog RF circuits in the SoC environment, and presents new results for on-line RF testing. Moreover, we also provide detailed analysis regarding the overhead of the test strategy implementation. Experimental results illustrate the feasibility of the proposed technique.Marcelo Negreiros was born in Porto Alegre, Brazil, in 1969. He received the electrical engineering degree in 1992 and the M.S. degree in 1994, both from Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS), Brazil. Since then he was been working as an associate researcher in the Signal Processing Lab. (LaPSI) of the Electrical Engineering Department at UFRGS. Since 2000 he also works toward a Ph.D. in Computer Science from UFRGS. His main research interests include mixed-signal and analog testing and digital signal processing.Luigi Carro was born in Porto Alegre, Brazil, in 1962. He received the Electrical Engineering and the MSc. degrees from Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS), Brazil, in 1985 and 1989, respectively. From 1989 to 1991 he worked at ST-Microelectronics, Agrate, Italy, in the R&D group. In 1996 he received the Ph.D. degree in the area of Computer Science from Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS), Brazil. He is presently a lecturer at the Electrical Engineering Department of UFRGS, in charge of Digital Systems Design and Digital Signal processing disciplines at the graduate and undergraduate level. He is also a member of the Graduation Program in Computer Science of UFRGS, where he is responsible for courses in Embedded Systems, Digital Signal Processing, and VLSI Design. His primary research interests include mixed-signal design, digital signal processing, mixed-signal and analog testing, and fast system prototyping. He has published more than 90 technical papers in those topics and is the author of the book Digital Systems Design and Prototyping (in portuguese).Altamiro A. Susin was born in Vacaria-RS, Brazil, in 1945. He received the Electrical Engineering and the MSc. degrees from Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS), Brazil, in 1972 and 1977, respectively. Since 1968 he worked in the start up of Computer Centers of two local Universities. In 1981 he got his Dr Eng degree from Institut National Polytechnique de Grenoble-France. He is presently a lecturer at the Electrical Engineering Department of UFRGS, in charge of Digital Systems Design disciplines at the graduate and undergraduate level. He is also a member of the Graduation Program in Computer Science of UFRGS, where he is responsible for courses in VLSI Architecture and is also thesis director. His main research interests are integrated circuit architecture, embedded systems, signal processing with more than 50 technical papers published in those domains. He is/was responsible for several R&D projects either funded with public and/or industry resources.     

运算放大器和电压比较器测试技术的实践应用

针对半导体集成电路运算放大器失效模式指出了其测试方法,通过分解半导体集成电路运算 (电压)放大器、电压比较器测试电原理图,说明了该类器件的一些主要性能参数测试原理,介绍了在生产实践中测试技术应用方法和注意事项,提出了生产单位怎样建立完整的运算放大器IC测试系统的构想.     

生产线用安规测试仪器的运行检查

以抗电强度、接地电阻测试用安规测试仪器为例,介绍了工厂用于生产线上的检测仪器运行检查的要求和检测方法,并比较了各种常用运行检查要求和方法的优缺点,对工厂根据自己使用的仪器设备和生产要求来选择合适的运行检查方法有一定的参考作用和指导意义。     

大规模集成电路的高低温测试技术

介绍了大规模集成电器高低温测试系统的建立，介绍了热流系统的主要技术指标和实用性。重点探讨了集成电路高低温测试系统，实际应用的关键技术及几个应该注意的技术细节。     

玩具EMC测试及其存在的主要问题

介绍玩具产品CE认证所需进行的电磁兼容测试及产品中出现的主要问题和解决方法。