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氮化硅微腔中的光学频率梳(特邀)
引用本文:李锦,王丕屿,王正瑜,牛睿,万帅,郭光灿,董春华.氮化硅微腔中的光学频率梳(特邀)[J].红外与激光工程,2022,51(5):20220302-1-20220302-7.
作者姓名:李锦  王丕屿  王正瑜  牛睿  万帅  郭光灿  董春华
作者单位:1.中国科学技术大学 中国科学院量子信息重点实验室,安徽 合肥 230026
基金项目:国家自然科学基金(12104442, 11934012)
摘    要:具有高品质因子(Q 值)的光学谐振腔能够长时间将光束缚在较小的模式体积内,极大地增强了光与物质的相互作用,成为集成光学器件中具有重大潜力的重要组成部分。聚焦于目前广泛应用于集成非线性光学领域的氮化硅材料平台,为了解决大尺寸氮化硅微环腔由拼接误差、表面粗糙等因素导致的散射损耗较大的问题,进行了一系列的工艺改进以提高大尺寸氮化硅微环腔的品质因子。结果表明:通过薄膜再沉积工艺可以有效降低氮化硅波导的散射损耗,半径为560 μm的大尺寸氮化硅微环腔的本征Q值得到了平均26% 的提升。得益于提高的微腔Q 值,在氮化硅微环腔中实现了重复频率40 GHz 的光学频率梳。

关 键 词:氮化硅微环腔    品质因子    光学频率梳
收稿时间:2022-02-20
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